КУС, Н. І.; ГОТРА, З. Ю.; ЧЕРПАК, В. В.; СТАХІРА, П. Й.; БАРИЛО, Г. І. Measurement of characteristics of organic transistor structures. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, [S. l.], v. 6, n. 12(66), p. 68–72, 2014. DOI: 10.15587/1729-4061.2013.19771. Disponível em: https://journals.uran.ua/eejet/article/view/19771. Acesso em: 24 apr. 2024.