Невлюдов, Игорь Шакирович, Ирина Владимировна Жарикова, Иван Дмитриевич Перепелица, and Алексей Георгиевич Резниченко. 2014. “The Analysis of the Electronic Devices Substrates Roughness Testing Methods”. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies 2 (5(68):25-30. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2014.21864.