Невлюдов, И. Ш., И. В. Жарикова, И. Д. Перепелица, and А. Г. Резниченко. “The Analysis of the Electronic Devices Substrates Roughness Testing Methods”. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, vol. 2, no. 5(68), Apr. 2014, pp. 25-30, doi:10.15587/1729-4061.2014.21864.