Кус НІ, Готра ЗЮ, Черпак ВВ, Стахіра ПЙ, Барило ГІ. Measurement of characteristics of organic transistor structures. EEJET [Internet]. 2014Jan.4 [cited 2024Apr.23];6(12(66):68-72. Available from: https://journals.uran.ua/eejet/article/view/19771