Берченко, М.М., Єрохов, В.Ю., Нічкало, С.І. and Бережанський, Є.І. 2014. Study of porous silicon surface by mass spectroscopy methods. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies. 6, 11(72) (Dec. 2014), 41–45. DOI:https://doi.org/10.15587/1729-4061.2014.33550.