Берченко, М. М., Єрохов, В. Ю., Нічкало, С. І., & Бережанський, Є. І. (2014). Study of porous silicon surface by mass spectroscopy methods. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 6(11(72), 41–45. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2014.33550