СЛИПЧЕНКО, Н. И.; ПИСЬМЕНЕЦКИЙ, В. А.; ФРОЛОВ, А. В.; ГЕРАСИМЕНКО, Н. В. Regression analysis of parameters of single-crystal silicon and thin-film amorphous photoconverters. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, [S. l.], v. 6, n. 5(48), p. 4–7, 2010. DOI: 10.15587/1729-4061.2010.3304. Disponível em: https://journals.uran.ua/eejet/article/view/3304. Acesso em: 24 nov. 2024.