БЕРЧЕНКО, М. М.; ЄРОХОВ, В. Ю.; НІЧКАЛО, С. І.; БЕРЕЖАНСЬКИЙ, Є. І. Study of porous silicon surface by mass spectroscopy methods. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, [S. l.], v. 6, n. 11(72), p. 41–45, 2014. DOI: 10.15587/1729-4061.2014.33550. Disponível em: https://journals.uran.ua/eejet/article/view/33550. Acesso em: 25 dec. 2024.