KYRYCHOK, P.; PALIUKH, O.; OLIYNYK, V. Виявлення впливу товщини клейового шару на зміну кутів обхвату і дотичних кутів. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, [S. l.], v. 3, n. 1 (105), p. 52–67, 2020. DOI: 10.15587/1729-4061.2020.203439. Disponível em: https://journals.uran.ua/eejet/article/view/203439. Acesso em: 29 трав. 2024.