Берченко, М. М., Єрохов, В. Ю., Нічкало, С. І. and Бережанський, Є. І. (2014) “Study of porous silicon surface by mass spectroscopy methods”, Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 6(11(72), pp. 41–45. doi: 10.15587/1729-4061.2014.33550.