[1]
В. Е. Саваневич, А. М. Кожухов, А. Б. Брюховецкий, В. П. Власенко, і В. Н. Ткачев, «Определение оптимального критического значения амплитуды для двудиапазонного фотометрического пересчета», EEJET, т. 4, вип. 9(52), с. 4–7, Груд 2011.