[1]
Е. М. Прохоренко, М. І. Базалєєв, Б. Б. Бандурян, В. В. Брюховецький, В. Ф. Клепіков, and В. В. Литвиненко, “Nondestructive testing and defectoscopy based on thermal imaging active thermography”, EEJET, vol. 1, no. 5(67), pp. 22–27, Feb. 2014.