Берченко, М. М., В. Ю. Єрохов, С. І. Нічкало, and Є. І. Бережанський. “Study of Porous Silicon Surface by Mass Spectroscopy Methods”. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, vol. 6, no. 11(72), Dec. 2014, pp. 41-45, doi:10.15587/1729-4061.2014.33550.