Невлюдов, Игорь Шакирович, Ирина Владимировна Жарикова, Иван Дмитриевич Перепелица, and Алексей Георгиевич Резниченко. “The Analysis of the Electronic Devices Substrates Roughness Testing Methods”. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies 2, no. 5(68) (April 15, 2014): 25–30. Accessed December 11, 2023. https://journals.uran.ua/eejet/article/view/21864.