Берченко, Микола Миколайович, Валерій Юрійович Єрохов, Степан Ігорович Нічкало, and Євген Іванович Бережанський. “Study of Porous Silicon Surface by Mass Spectroscopy Methods”. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies 6, no. 11(72) (December 15, 2014): 41–45. Accessed May 1, 2024. https://journals.uran.ua/eejet/article/view/33550.