МАЦЕПА, С. М.; КАНАШЕВИЧ, Г. В.; КОВАЛЕНКО, Ю. І.; ЦИНДА, Р. В.; ЖАЙВОРОНОК, . І. С. ПОКРАЩЕННЯ ЯКОСТІ ОПТИЧНИХ ПОВЕРХОНЬ ЕЛЕМЕНТНОЇ БАЗИ ІНФОРМАЦІЙНИХ СИСТЕМ МЕТОДОМ ЕЛЕКТРОННО-ПРОМЕНЕВОЇ МІКРООБРОБКИ. Вісник Черкаського державного технологічного університету, [S. l.], n. 4, p. 35–44, 2021. DOI: 10.24025/2306-4412.4.2021.244832. Disponível em: https://journals.uran.ua/index.php/2306-4412/article/view/244832. Acesso em: 11 чер. 2026.