Петренко, С. Ф., О. Г. Новаковський, Віктор Степанович Антонюк, Є. В. Скорина, і Юлія Юріївна Бондаренко. «ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ». Вісник Черкаського державного технологічного університету 1, no. 1 (Березень 19, 2018): 5–13. дата звернення Червень 11, 2026. https://journals.uran.ua/index.php/2306-4412/article/view/153265.