Trishch, R.; Maletska, O.; Cherniak, O.; Semionova, J.; Jancis, V. АНАЛІЗ ВИМОГ МІЖНАРОДНИХ ТА НАЦІОНАЛЬНИХ СТАНДАРТІВ ДО МЕТОДИК ВИМІРЮВАННЯ ТА МЕТРОЛОГІЧНОГО ОБЛАДНАННЯ. ITSSI 2020, 156-162.