Оценка диагностических свойств теста проверки оперативной памяти March_ DSS

Автор(и)

  • Татьяна Юрьевна Потопахина Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21, г. Харьков, Украина, 61002, Україна
  • Игорь Геннадиевич Либерг Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут» вул. Фрунзе, 21, м. Харків, Україна, 61002, Україна
  • Алина Юрьевна Попова Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002, Україна
  • Алина Юрьевна Попова Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002, Україна
  • Алина Игоревна Сивальнева Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002, Україна

DOI:

https://doi.org/10.15587/2313-8416.2014.34596

Ключові слова:

неисправности оперативной памяти, тестовые последовательности «March», оценка диагностической способности

Анотація

Предлагаются исследования диагностической способности тестовой последовательности March_DSS для обнаружения неисправностей оперативной памяти. Представлены результаты оценивания диагностического качества теста March_DSS по сравнению с другими алгоритмами проверки на предмет обнаружения кратных несправностей. Предлагаются рекомендации к применению исследованных тестовых последовательностей.

Біографії авторів

Татьяна Юрьевна Потопахина, Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21, г. Харьков, Украина, 61002

Кафедра автоматики и управления в технических системах

Игорь Геннадиевич Либерг, Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут» вул. Фрунзе, 21, м. Харків, Україна, 61002

Кандидат технічних наук, доцент

Кафедра автоматики і управління в технічних системах

Алина Юрьевна Попова, Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002

Кафедра автоматики и управления в технических системах

Алина Юрьевна Попова, Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002

Кафедра автоматики и управления в технических системах

Алина Игоревна Сивальнева, Национальный техничский университет «Харьковский политехнический институт» ул. Фрунзе, 21 , г. Харьков , Украина, 61002

Кафедра автоматики и управления в технических системах

Посилання

van de Goor, A. J. (1998). The Automatic Generation of March Tests. Rec. IEEE Int. Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 86–91. doi: 10.1109/mtdt.1994.397192

Lakshmi, H. R., Varchaswini, R., M Shirur, Y. J. (2014). Implementation of FSM-MBIST and Design of Hybrid MBIST for Memory cluster in Asynchronous SoC . International Journal of Computer Applications Technology and Research, 3 (4), 216–220.

Patent N20090199057A1 USA, Int.Cl.G11 C29/00 (2009). March DSS: Memory Diagnostic Test. Publ. 06.08.2009.

Moamar, D. N., Rjabcev, V. G., Utkina, T. Ju. (2011). Metod ocenki diagnosticheskih svojstv testov mikroshem pamjati. Vіsnik Hmel'nic'kogo nacіonal'nogo unіversitetu, 4, 226–232.

van de Goor, A. J. (1998). Testing Semiconductor Memories. Theory and Practice. ComTex Publushing, Gouda, The Netherlands, 512.

Libergb, I. G., Bovkun, D. N. (2004). Issledovanie obnaruzhivajushhej sposobnosti algoritmov proverki operativnoj pamjati. Vestnik NTU ”KhPI”, 17, 127–137.

##submission.downloads##

Опубліковано

2014-12-25

Номер

Розділ

Фізико-математичні науки