Melnyk, R. і Kvit, R. 2020. Вимірювання інтенсивності дефектів поверхні матеріалу за допомогою розподіленої кумулятивної гістограми та кластеризації. Technology audit and production reserves. 4, 2(54) (Сер 2020), 36–45. DOI:https://doi.org/10.15587/2706-5448.2020.210151.