Melnyk, R., & Kvit, R. (2020). Вимірювання інтенсивності дефектів поверхні матеріалу за допомогою розподіленої кумулятивної гістограми та кластеризації. Technology Audit and Production Reserves, 4(2(54), 36–45. https://doi.org/10.15587/2706-5448.2020.210151