БОБАЛО, Ю. Я.; БОНДАРЄВ, А. П.; НЕДОСТУП, Л. А.; КІСЕЛИЧНИК, М. Д.; ЗАЯРНЮК, П. М. Radioelectonic apparatus parametrical reliability predicting with deterministic parameter drift bilateral limitation. Technology audit and production reserves, [S. l.], v. 3, n. 2(23), p. 79–83, 2015. DOI: 10.15587/2312-8372.2015.42366. Disponível em: https://journals.uran.ua/tarp/article/view/42366. Acesso em: 14 apr. 2025.