Melnyk, Roman, і Roman Kvit. «Вимірювання інтенсивності дефектів поверхні матеріалу за допомогою розподіленої кумулятивної гістограми та кластеризації». Technology audit and production reserves 4, no. 2(54) (Серпень 31, 2020): 36–45. дата звернення Травень 18, 2024. https://journals.uran.ua/tarp/article/view/210151.