Бобало, Юрій Ярославович, Андрій Петрович Бондарєв, Леонід Аврамович Недоступ, Мирослав Дмитрович Кіселичник, and Павло Михайлович Заярнюк. “Radioelectonic Apparatus Parametrical Reliability Predicting With Deterministic Parameter Drift Bilateral Limitation”. Technology audit and production reserves 3, no. 2(23) (May 28, 2015): 79–83. Accessed May 3, 2024. https://journals.uran.ua/tarp/article/view/42366.