Особливості формування омічних контактів на основі арсеніду галію

Автор(и)

  • Вадим Сергійович Дмитрієв Запорізька державна інженерна академія, Україна

DOI:

https://doi.org/10.15587/2312-8372.2012.4737

Ключові слова:

мікроелектронна композиція, омічний контакт, режими термообробки, арсенід галію.

Анотація

Розроблено модель формування мікроелектронної композиції Ag-Ge-In/n-GaAs (111), яка враховує умови термообробки і дозволяє встановити залежність між параметрами омічного контакту та режимами термообробки.

Біографія автора

Вадим Сергійович Дмитрієв, Запорізька державна інженерна академія

Магістр

Кафедра фізичної та біомедичної електроніки

Посилання

  1. Швец, Е.Я. Технологии и материалы солнечной энергетики [Текст] : монография / Е.Я. Швец. – Запорожье: ЗГИА. – 2007. – 240с.
  2. Швец, Е.Я. Технологические особенности квазиомических контактов для солнечных элементов. [Текст] : зб. наук. пр. / Е.Я. Швец, Л.Б. Дмитриева, Ф. Каек // Металургія. – Вип. 16. – Запоріжжя, ЗДІА. – 2007. – С.74-78.
  3. Швец, Е.Я. Исследование солнечных элементов с барьерами Шоттки [Текст] / Е.Я. Швец, Л.Б. Дмитриева, Ф. Каек. // Тезисы докл. на ХII НТК студентів, магістрантів та викладачів ЗДІА. – Т.3. – Запоріжжя, ЗДІА. – 2007. – С.94-95.
  4. Швец, Е.Я. Влияние режимов термообработки на структуру переходного слоя омических контактов [Текст] : зб. наук. пр. / Е.Я. Швец, Л.Б.Дмитриева, В.С. Дмитриев // Металургія. – Вип. 2(25). – Запоріжжя, ЗДІА. – 2011. – С.120-124.
  5. Швец Е.Я. Исследование влияния межфазной границы раздела на высоту барьера Шоттки [Текст] : зб. наук. пр. / Е.Я.Швец, Л.Б.Дмитриева, В.С. Дмитриев // Металургія. – Вип. 1(26). – Запоріжжя, ЗДІА. – 2011. – С.126-130.
  6. Швец, Е.Я. Исследование влияния поверхностных состояний на показатели качества и технологичности структур Me-GaAs [Текст] : зб. наук. пр. / Е.Я. Швец, Л.Б. Дмитриева, В.С Дмитриев // Металургія. – Вип. 2(27). – Запоріжжя, ЗДІА. – 2012. – С.138-142.
  7. Дмитриев, В.С. Особенности технологии изготовления микроэлектронного датчика [Текст] / В.С. Дмитриев, Е.Я. Швец //Материалы 15 Юбилейного Международного молодежного форума «Радиоэлектроника и молодежь в ХХI веке». – том 1. – Харьков, ХНУРЭ. – 2011. – С.46-47
  8. Дмитриев, В.С. Исследование влияния на качество омического контакта режимов термообработки [Текст] / В.С.Дмитриев, Л.Б. Дмитриева //Тезисы докл. на ХVI НТК студентів, магістрантів та викладачів ЗДІА. – Т.3. – Запоріжжя, ЗДІА. – 2011. – С.23

##submission.downloads##

Опубліковано

2012-09-18

Як цитувати

Дмитрієв, В. С. (2012). Особливості формування омічних контактів на основі арсеніду галію. Technology Audit and Production Reserves, 3(1(5), 35–36. https://doi.org/10.15587/2312-8372.2012.4737