Вплив домішок Te та Se на структуру поверхні оксиду церію

Автор(и)

  • А. Ю. Попович Ужгородський національний університет, Україна
  • Н. І. Попович Ужгородський національний університет, Україна
  • О. П. Кохан Ужгородський національний університет, Україна
  • Н. Цуд Карлов університет у Празі, Чехія
  • З. Гажова Інститут експериментальної фізики Словацької академії наук, Словаччина
  • В. Матолін Карлов університет у Празі, Чехія
  • В. М. Різак Ужгородський національний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2016.40.92-97

Ключові слова:

Оксид церію, Халькогеніди, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, Хімічні сполуки

Анотація

Одержано об’ємні зразки оксиду церію з домішками телуру та селену CeO2+Te та CeO2+Se при різних температурах синтезу. Досліджено структуру одержа-них зразків методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. (РФС). 

Біографія автора

А. Ю. Попович, Ужгородський національний університет

Uzhhorod National University

Посилання

Щербаков А. Б., Жолобак Н. М., Иванов В. К., Третьяков Ю. Д., Спивак Н. Я.. Наноматериалы на основе диоксида церия: свойства и перспективы использования в медицине // Біотехнологія. – 2011. –Т.4, №1. – с.9-28.

Борисов А. В., Шмырева А. Н., Максимчук Н. В.. Нанокристаллические пленки оксида церия для биолюминесцентных сенсорных систем // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.- 2009. - Т.7, № 1. - С. 245-254.

Popescu M. A. (2000) “Non-Crystalline Chalcogenides”, Academic Publishers, 377.

Yan Zhu, Nikhil Jain, Mantu K.Hudait (2014), “X-ray photoelectron spectroscopy analysis and band offset determination of CeO2 deposited on epitaxial (100), (110), and (111) Ge” Journ. Vac. Sci. & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena, 32, 011217-1-11.

Krawczyk M., Holdynski M, Lisowski W., Sobczak J.W., Jablonski A. (2014) “Electron inelastic mean free paths in cerium dioxide” Appl. Surf. Sci., 341, 196-202.

Moulder J. F., Chastain J. (1992). Handbook of Х-ray photoelectron spectroscopy: A reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, Minn: Physical Electronics Division, Perkin-Elmer Corp., 255 р.

##submission.downloads##

Опубліковано

2016-12-31

Номер

Том 40 (2016)

Розділ

Статті

Ліцензія

Авторське право (c) 2016 Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.

Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
    1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
    2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
    3. Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).