Напилення та фізичні властивості тонких плівок на основі Cu<sub>6</sub>PS<sub>5</sub>I
DOI:
https://doi.org/10.24144/2415-8038.2016.40.72-79Ключові слова:
Тонкі плівки, Магнетронне напилення, Електрична провідність, Оптичне поглинання, Показник заломленняАнотація
Тонкі плівки на основі Cu6PS5I були нанесені на підкладинки з силікатного скла методом нереактивного радіочастотного магнетронного розпилення. Хімічний склад тонких плівок визначався за допомогою енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії. Електрична провідність тонких плівок на основі Cu6PS5I вивчалася в залежності від хімічного складу. Спектри оптичного пропускання тонких плівок на основі Cu6PS5I досліджувалися в інтервалі температур 77–300 К. Спектри краю поглинання та дисперсійні залежності показників заломлення визначалися за спектрами оптичного пропускання. Зміни основних параметрів урбахівського краю поглинання та електрон-фононної взаємодії проаналізовані в залежності від вмісту Cu в тонких плівках на основі Cu6PS5IПосилання
Kuhs, W.F., Nitsche, R., Scheunemann K. (1976), "Vapour growth and lattice data of new compounds with icosahedral structure of the type Cu6PS5Hal (Hal = Cl, Br, I)", Mater. Res. Bull., Vol. 11, pp. 1115–1124.
Nilges, T., Pfitzner, A. (2005), "A structural differentiation of quaternary copper argyrodites: Structure-property relations of high temperature ion conductors", Z. Kristallogr., Vol. 220, pp. 281-294.
Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Kovacs, Gy.Sh., Desnica, I.D., Panko, V.V., Slivka, V.Yu. (2001), "Influence of compositional disorder on optical absorption processes in Cu6P(S1-xSex)5I crystals", J. Mat. Res. Vol. 16, pp.1600-1608.
Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Kurik, M.V. (2006), "Urbach rule and disordering processes in Cu6P(S1-xSex)5Br1-yIy superionic conductors", J. Phys. Chem. Solids, Vol. 67, pp. 807-817.
Gagor, A., Pietraszko, A., Kaynts, D. (2005), "Diffusion paths formation for Cu ions in superionic Cu6PS5I single crystals studied in terms of structural phase transition", J. Solid State Chem, Vol. 178, pp. 3366–3375.
Studenyak, I.P., Stefanovich, V.O., Kranjčec, M., Desnica, D.I., Azhnyuk, Yu.M., Kovacs, Gy.Sh., Panko, V.V. (1997), "Raman scattering studies of Cu6PS5Hal (Hal = Cl, Br and I) fast-ion conductors", Solid State Ionics, Vol. 95, pp. 221–225.
Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Kovacs, Gy.Sh., Panko, V.V., Desnica, D.I., Slivka, A.G., Guranich, P.P. (1999), "The effect of temperature and pressure on the optical absorption edge in Cu6PS5X (X = Cl, Br, I) crystals", J. Phys. Chem. Solids, Vol. 60, pp. 1897–1904.
Kovacs, Gy.Sh., Borets, A.N., Studenyak, I.P., Panko, V.V., Rosola, I.I. (1986), "Optic-refractometric relation and refraction index dispersion in Cu6PS5Hal crystals", Ukrainian Journal of Physics, Vol. 31, pp. 1201-1204.
Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Izai, V.Yu., Chomolyak, A.A., Vorohta, M., Matolin, V., Cserhati, C., Kökényesi, S. (2012), "Structural and temperature-related disordering studies of Cu6PS5I amorphous thin films", Thin Solid Films, Vol. 520, pp. 1729-1733.
Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Chomolyak, A.A., Vorohta, M., Matolin V. (2012), "Optical absorption and refractive properties of superionic conductor Cu6PS5I thin films" ["Optychne vbyrannya ta refraktyvni vlastyvosti vidpalenyh tonkyh plivok superionnoho providnyka Cu6PS5I"], Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, Vol. 10, pp. 487-494.
Urbach, F. (1953), "The Long-Wavelength Edge of Photographic Sensitivity and of
the Electronic Absorption of Solids", Phys. Rev., Vol. 92, pp. 1324-1326.
Sumi, H., Sumi, A. (1987), "The UrbachMartienssen rule revisited", J. Phys. Soc. Japan, Vol. 56, pp. 2211-2220.
Kurik, M.V. (1971), "Urbach rule (Review)", Phys. Stat. Sol. (a), Vol. 8, pp. 9-30.
Beaudoin, M., DeVries, A.J.G., Johnson, S.R., Laman, H., Tiedje, T. (1997), "Optical absorption edge of semiinsulating GaAs and InP at high temperatures", Appl. Phys. Lett, Vol. 70, pp. 3540-3542.
Yang, Z., Homewood, K.P., Finney, M.S., Harry, M.A., Reeson, K.J. (1995), "Optical absorption study of ion beam synthesized polycrystalline semiconducting FeSi2", J. Appl. Phys., Vol. 78, pp. 1958-1963.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2016 Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).