Оптичні властивості опромінених рентгенівськими променями тонких плівок на основі Cu<sub>6</sub>PS<sub>5</sub>I, нанесених магнетронним розпиленням

Автор(и)

  • Ihor Petrovych Studenyak Ужгородський національний університет, Україна
  • Andrii Vasyliovych Bendak Ужгородський національний університет, Україна
  • Mykola Oleksiyovych Vizenko Ужгородський національний університет, Україна
  • Vitalii Yuriyovych Izai Ужгородський національний університет, Україна
  • Andrii Mykhailovych Solomon Інститут електронної фізики, Україна
  • Peter Kúš Університет ім. Коменського, Словаччина

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2017.41.7-13

Ключові слова:

тонка плівка, магнетронне розпилення, рентгенівське випромінювання, оптичне поглинання, показник заломлення

Анотація

Тонкі плівки на основі Cu6PS5I, нанесені методом магнетронного розпилення, опромінювалися при різних часах експозиції з використанням широкосмугового випромінювання мідного аноду рентгенівської трубки. Вивчено спектри оптичного пропускання, урбахівський край оптичного поглинання та дисперсію показників заломлення опромінених рентгенівським випромінюванням тонких плівок Cu5.6P1.7S4.9I0.8, Cu6.4P1.1S4.6I0.9 та Cu8.0P0.7S3.6I0.7. Виявлено зменшення енергії псевдозабороненої зони та збільшення показника заломлення при збільшенні часу рентгенівського опромінювання.

Посилання

Kuhs, W.F., Nitsche, R., Scheunemann K. (1979), “The argyrodites – a new family of the tetrahedrally close-packed structures“, Mater. Res. Bull., No. 14, pp. 241-248.

Studenyak, I.P., Kranjčec, M. (2007), Disordering effects in superionic conductors with argyrodite structure [Efekty ro-zuporiadkuvannia v superionnykh providnykakh zi strukturoyu arhirodyta], Hoverla, Uzhhorod, 200p.

Studenyak, I., Kranjčec, M., Kurik, M. (2014), “Urbach rule in solid state phys-ics”, Int. J. Opt. Appl., No. 4, pp. 76-83.

Studenyak, I.P., Kus, P. (2016), Struc-tural disorder in crystalline and amor-phous superionic conductors, Hoverla, Uzhhorod, 200 p.

Orliukas, A.F., Kazakevicius, E., Kezi-onis, A., Salkus, T., Studenyak, I.P., Bu-chuk, R.Yu., Prits, I.P., Panko, V.V., (2009), “Preparation, electric conductivity and dielectrical properties of Cu6PS5I-based superionic composites” , Solid State Ionics, No. 180, pp. 183–186.

Studenyak, I.P., Buchuk, R.Yu., Kranjčec, M., Makauz, I.I., Voynarovych, I.M., Daroczi, L., Charnovich, I., Kökényesi S. (2011), “Structural, electri-cal, and optical properties of As2S3-Cu6PS5I nanocomposites” , J. Non-Cryst. Solids, No. 357, pp. 96–99.

Šalkus, T., Kazakevičius, E., Banys, J., Kranjčec, M., Chomolyak, A.A., Neimet ,Yu.Yu., Studenyak, I.P. (2014), “Influence of grain size effect on electri-cal properties of Cu6PS5I superionic ceramics”, Solid State Ionics, No. 262, pp. 597-600.

Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Izai, V.Yu., Chomolyak, A.A., Vorohta, M., Matolin, V., Cserhati, C., Kökényesi, S. (2012), “Structural and temperature-related disordering studies of Cu6PS5I amorphous thin films”, Thin Solid Films. No. 520, pp. 1729-1733.

Studenyak, I.P., Kranjčec, M., Chomoly-ak, A.A., Vorokhta, M., Matolin V. (2012), “Optical absorption and refractive properties of annealed thin films of Cu6PS5I superionic conductor” [“Optychne vbyrannia ta refraktyvni vlas-tyvosti vidpalenykh tonkykh plivok su-perionnoho providnyka Cu6PS5I”] , Nanosystems, nanomaterials, nano-technologies [Nanosystemy, nanomaterialy, nanotekhnolohii], No. 10, pp. 489-496 .

Studenyak, I.P., Bendak, A.V., Dem-ko, P.Yu., Studenyak, V.I.,. Izai, V.Yu, Vorokhta, M., Matolin, V., Kúš, P., Lisý, V., Komada, P., Kashaganova G. (2015), “Influence of external factors on optical parameters in Cu6PS5I thin films” , Proc. SPIE 9816, Optical Fibers and Their Ap-plications No. 9816, pp. 98160C-8.

Studenyak, I.P., Bendak, A.V., Izai, V.Yu., Guranich, P.P., Kúš, P., Mikula, M., Grančič, B., Zahoran ,M., Gregu,š J., Vincze, F., Roch, T., Plecenik, T. (2016), “Electrical and optical parameters of Cu6PS5I-based thin films deposited using magnetron sputtering”, Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoe-lectronics, No. 19, pp. 79-83.

Swanepoel, R. (1983), “Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon” J. Phys. E: Sci. In-strum., No. 16, pp.1214-1222.

Urbach, F. (1953), “The Long-Wavelength Edge of Photographic Sensi-tivity and of the Electronic Absorption of Solids”, Phys. Rev., No. 92, pp. 1324-1326.

Cody, G.D., Tiedje, T., Abeles, B., Brooks, B., Goldstein Y. (1981), “Disorder and the optical-absorption edge of hydrogenated amorphous silicon” , Phys. Rev. Lett., No. 47, pp. 1480-1483.

##submission.downloads##

Опубліковано

2017-07-01

Номер

Розділ

Статті