X-ray investigation of structural perfection of ZnSe < Mg > crystals

Authors

  • О. М. Сльотов Yu. Fedkovych Chernivtsi National University, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2003.14.32-35

Abstract

Diffractive reflection of X-rays in ZnSe<Mg> crystals is investigated. The main parameters characterizing structural changes in zinc selenide host crystal are analyzed. Possible processes affecting the structural properties of ZnSe crystals are considered.

References

Физика соединений АПВУ1, под ред. А.Н.Георгобиани и М.К.Шейнкмана (Наука, Москва, 1986).

В.К.Баженов, В.И.Фистуль, ФТП 18, 1345 (1986).

З.Г.Пинскер, Рентгеновская кристалооптика (Наука, Москва, 1982).

Г.П.Кушта, Рентгенографія металів (Видавництво Львівського університету, Львів, 1952).

Д.Д.Недеогло, А.В.Симашкевич, Электрические и люминесцентные свойства селенида цинка. (Штиинца, Кишинев, 1984).

M.M.Slyotov, Technical Physical Letters 27,48 (2001).

О.В.Махній, О.М.Сльотов, І.М.Фодчук, Науковий вісник ЧДУ 86, 73 (2000).

Ю.Н.Дмитриев, В.Д.Рыжиков, Л.П.Галь- чинецкий, Термодинамики изовалентного легирования кристаллов полупроводниковых соединении А2В6 (ВНИИ, Харьков, 1990).

В.П.Махний, Н.Д.Раранский, А.М.Слетов, И.В.Ткаченко, Матеріали міжнародної конференції МКФТТП (Івано-Франківськ, 2003), т. 1, с.214-215.

Published

2003-12-25

Issue

Section

Статті