Кристалічна структура халькогенідів кремнію

Автор(и)

  • Д. И. Блецкан Ужгородський державний університет, Україна
  • Ю. В. Ворошилов Ужгородський державний університет, Україна
  • Л. В. Алексик Ужгородський державний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.1999.4.159-167

Анотація

Описано кристалічну структуру дисульфіду, діселеніду і сесквітеллурнду кремнію. Основними структурними елементами SiS2 і SiSe2 є тетраедри [SiX4], де X = S, Se. У фазі SiS2 низького тиску з ромбічною структурою координаційні тетраедри кремнію ув'язані ребрами тетраедрів в нескінченні ланцюги. Фаза високого тиску SiS2 з тетрагональним об'ємоцентрованим осередком побудована з нескінченних зигзагоподібних ланцюгів тетраедрів [SiS4/2], що тягнуться в двох взаємно перпендикулярних напрямках, утворюючи жорсткий каркас ковалентно пов'язаних тетраедрів. З'єднання Si2Te3 кристалізується в тригональній структурі, що містить два шарових пакета на елементарну комірку, кожен з яких представляє два шари атомів телуру, між якими знаходяться атоми кремнію у вигляді гантелей, які координуються октаедрами телуру. Структура на 71 % дефіцитна по кремнію.

Посилання

Хансен М., Андерко К. Структуры двойных сплавов: В 2 - х томах. - М.: Металлургиздат, 1962. - Т.2, 1488 с.

Peters J., Krebs В. Silicon disulfide and silicon diselenide: a reinvestigation // Acta Crystallogr. - 1982. - Vol. B38, No4. - P.1270-1272.

Silverman M.S., Soulen J.R. High pressure synthesis of new silicon sulfides // Inorgan. Chem. - 1965. - Vol.4, No1. - P.129-130.

Prewitt C.T., Young H.S. Germanium and silicon disulfides: structure and synthesis // Science. - 1965. - Vol.149, No3683. - P.535-537.

Hillel R., Cueilleron J. Preparation et etude du selenid de silicium: SiSe2 // Bull. Soc. Chem. France. - 1971. - Vol.15,. No2. - P.394-398.

Ploog K., Stetter W., Nowitzki A., Schönherr E. Crystal growth and structure determination of silicon telluride Si2Te3 // Mat. Res. Bull. - 1976. – Vol.11, No8. - P.1147-1154.

Hanaveld A.J., Klein Veer W. van der, Jellinek F. On silicion tritelluride // Recueil trav. Chim. - 1968. – Vol.87, No3. - P.255-256.

Gregoriades P.E., Bleris G.L., Stoemenos J. Electron diffraction study of the Si2Te3 structural transformation // Acta Crystallography. - 1983. - Vol. B39, No4. - P.421-426.

##submission.downloads##

Опубліковано

1999-02-25

Номер

Том 4 (1999)

Розділ

Статті

Ліцензія

Авторське право (c) 1999 Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.

Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
    1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
    2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
    3. Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).