Вплив швидких важких іонів Xe<sup>26+</sup>на властивості плівок оксиду цинку, осаджених на підкладки сапфіру

Автор(и)

  • Д. В. Миронюк Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Україна
  • А. С. Романюк Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, Україна
  • В. О. Скуратов Об’єднаний інститут ядерних досліджень, Російська Федерація
  • І. І. Тімофеєва Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Україна
  • Г. В. Лашкарьов Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Україна
  • В. Й. Лазоренко Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Україна
  • В. В. Стрельчук Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, Україна
  • О. Ф. Коломис Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, Україна
  • В. В. Хомяк Чернівецький національний університет ім. Ю. Федьковича, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2013.34.86-91

Ключові слова:

Оксид цинку, ZnO, Опромінення, Швидкі важкі іони, Точкові дефекти

Анотація

Плівки оксиду цинку, вирощені методом магнетронного осадження при постійному струмі на сапфірових підкладках, опромінювали різними дозами іонів Хе26+ з енергією 167 МеВ. Вихідні та опромінені зразки були досліджені методами рентгенівського структурного аналізу, фотолюмінесценції та спектроскопії резо­нанс­ного комбінаційного розсіювання світла. Встановлено, що опромінення викликає виникнення дефектів, зменшення розміру областей когерентного роз­сіюван­ня  та зростання інтенсивності дефектної смуги ФЛ

Посилання

Lashkarev G.V., Karpyna V.A., Lazorenko V.I., Ievtushenko A.I., Shtepliuk I.I., Khranovskyy V.D. Properties of zinc oxide at low and moderate temperatures // Low. Temp. Phys. – 2011. - V.37, №3 – P. 226-234.

Look D.C., Coskun C., Claflin B., Farlow G.C. Electrical and optical properties of defects and impurities in ZnO // Physica B. – 2003. – V.32. - P. 340-342.

Kumar P.M.R., Kartha C.S, Vijayakumar K.P., Singh F., Avasthi D.K. Modifications of ZnO thin films under dense electronic excitation // J. Appl. Phys. – 2005. – V.97. – P. 013509-1-6.

Agarwal D.C., Kumar A., Khan S.A., Kabiraj D., Singh F., Tripathi A., Pivin J.C., Chauhan R.S., Avasthi D.K. SHI induced modification of ZnO thin film: Optical and structural studies // Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B. – 2006. – V.244. – P. 136-140.

Cullity B.D. Elements Of X-Ray Diffraction // Addison-Wesley Publishing Company, Inc. – 1956. – P. 371.

Singh F., Kulriya P.K., Pivin J.C. Origin of swift heavy ion induced stress in textured ZnO thin films: An in situ X-ray diffraction study // Sol. Stat. Com. – 2010. – V.150. – P. 1751-1754.

Leiter F., Zhou H., Henecker F., Hofstaetter A., Hofmann D.M., Meyer B.K. Magnetic resonance experiments on the green emission in undoped ZnO crystals // Physica B. – 2001. – V.308–310. – P. 908–911.

Kohan A.F., Ceder G., Morgan D., Van de Walle C.G. First-principles study of native point defects in ZnO // Phys. Rev. B. – 2000. – V.61. – P. 15019-15027.

Korsunska N.O., Borkovska L.V., Bulakh B.M., Khomenkova L.Yu., Kushnirenko V.I., Markevich I.V. The influence of defect drift in external electric field on green luminescence of ZnO single crystals // J. Lumin. – 2003. – V. 102–103. – P. 733–736.

Matsumoto T., Kato H., Miyamoto K., Sano M., Zhukov E.A., Yao T. Correlation between grain size and optical properties in zinc oxide thin films // Appl. Phys. Lett. – 2002. – V.81. – P. 1231-1233.

Khranovskyy V., Yazdi G.R., Lashkarev G., Ulyashin A., Yakimova R. Investigation of ZnO as a perspective material for photonics // Phys. Stat. Sol. (a). – 2008. – V. 205, N.1 – P. 144–149

##submission.downloads##

Опубліковано

2013-11-25

Номер

Розділ

Статті