ДО ПИТАННЯ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ДИФРАКЦІЇ НА ПОВЕРХНЯХ МОНОКРИСТАЛІВ ПАРАТЕЛУРИТУ

Автор(и)

  • О. М. Юрійчук Інститут електронної фізики НАН України, Україна
  • Л. А. Проц Інститут електронної фізики НАН України, Україна
  • І. І. Чичура Інститут електронної фізики НАН України, Україна
  • К. П. Попович Інститут електронної фізики НАН України, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2007.21.220-224

Анотація

Проведено рентгенодифрактометричні дослідження поверхонь монокристалів парателуриту при різних величинах порушеного приповерхневого шару, спри­чинених технологічними етапами механічної обробки. Отримано залежності дифракційного відбивання при скануванні Θ/2Θ методом і методом гойдання. Виявлено, що запропонованими методами можна проводити оцінку якості приповерхневого шару.

Посилання

Зверев В.А., Карасева И.А., Карпов В.Г. Оптика и спектроскопия 85, 5, 874 (1998).

Л.В.Поренко, Ю.Д.Філатов, Технологія обробки оптичних поверхонь (Київський національний університет ім.Т.Шевченка, К., 2004).

Г.И.Белых, Е.И.Райхельс, Рентгено-дифрактометрическая методика определения параметров дефектной структуры, возникающей при механической обработке монокристалла (Машиностроение, Ленинград, 1978).

Л.И.Даценко, В.П.Кладько, В.Ф.Мачулин, В.Б.Молодкин, Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальними кристаллами в области аномальной дисперсии. (Академпериодика, К. 2002).

##submission.downloads##

Опубліковано

2007-08-05

Номер

Розділ

Статті