Дослідження плівок оксиду цинку методами електронної і атомносилової мікроскопії та спектральної еліпсометрії

Автор(и)

  • Л. В. Поперенко Київський національний університет імені Тараса Шевченка, фізичний факультет, Україна
  • М. В. Раков Київський національний університет імені Тараса Шевченка, фізичний факультет, Україна
  • В. М. Ткач Інститут надтвердих матеріалів НАНУ імені Бакуля, Україна
  • І. В. Юргелевич Київський національний університет імені Тараса Шевченка, фізичний факультет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2009.24.166-170

Анотація

В цій статті описано мотивацію для дослідження оптичних властивостей плівок ZnО. Методом спектральної еліпсометрії визначено спектральні залежності еліпсометричних параметрів плівок. Методами растрово-електронної (РЕМ) та атомносилової (АСМ) мікроскопії отримано дані про структуру і шорсткість поверхонь плівок. Зроблено деякі висновки про властивості досліджуваних плівок.

Посилання

Борбат А.М., Горбань И.С., Охрименко Б.А., Суббота-Мельник П.А., Шайкевич И.А., Шишловский А.А. Оптические измерения. (Техшка, Киев, 1967) — 418 с.

Klaus Ellmer, Andreas Klein, Bemd Rech “Transparent conductive zinc oxide: Basics And Applications In Thin Film Solar Cells” (Springer, 2008) - 446 p.

Основы эллипсометрии. Под редакцией А. В. Ржанова. (Наука, Новосибирск, 1979). - 422 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2009-06-30

Номер

Розділ

Статті