Эллипсометрическое исследование оптической однородности тонких пленок халькогенидного стекла

Авторы

  • В. М. Жихарєв Ужгородский национальный университет, Ukraine
  • М. І. Козак Ужгородский национальный университет, Ukraine
  • І. Д. Сейковський Ужгородский национальный университет, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2004.16.59-66

Ключевые слова:

Модель однородной изотропной пленки, Модель неоднородной по толщине пленки, Эллипсометрические измерения, Оптические константы

Аннотация

В рамках двух подходов - модели однородной изотропной пленки и модели неоднородной по толщине пленки, профиль показателя преломления которой аппроксимирован тремя изотропными однородными слоями, на основе эллипсометрических измерений рассчитывались оптические константы тонких пленок стекловидного As2S3 различной толщины. Показано, что более адекватной является вторая модель.

Библиографические ссылки

М.Борн, Э.Вольф, Основы оптики (Наука, Москва, 1973).

Р.Аззам, Н.Башара, Эллипсометрия и поляризованный свет (Мир, Москва, 1981).

В.М. Жихарєв, М.І. Козак, М.Ю. Бобик, І.Д. Сейковський, Вісник Ужгородського університету. Сер. Фізика, в. 15, 2004.

I. Ohlidal, D. Franta, M. Frumar, J. Jedelsky, J. Omasta, JOAM, 2004.

Опубликован

2004-12-31

Выпуск

Раздел

Статті