Іон-фотонна емісія &alpha;-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>

Автор(и)

  • Р. П. Логойда Ужгородський національний університет, Україна
  • О. М. Коноплев Ужгородський національний університет, Україна
  • Й. Й. Бундаш Ужгородський національний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.1999.5.213-215

Ключові слова:

Іон, емісія, томограф, дослідження

Анотація

З метою апробації вузлів доплерівського томографа, методом ІФС досліджена іон-фотонна емісія поверхні a Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>. Одержані та ідентифіковані спектри спостерігається в діапазоні 200-800 м. Максимум іонолюмінесценції спостерігається в області 335 км. Аналізується роль поверхневих моношарів речовини в утворенні збуджених вторинних частинок.

Посилання

і Somogyi К., Zhilgaev Yu, V. in: The tenth International Conference On Vapor Growth and Epitaxy, Jerusalem, Israel, 1998, p. 271.

Севастьянов Б, К., Багдасаров X. С., Федоров Е.А, и др, Перестраиваемый лазер на кристалле А1:Оз:Тг'.7 Кристаллография. 1984. Т. 29. № 5, С.963-964.

McKcever S. W. 3., Mosoovitch М. and Townsend Р. D-, ThermolLunmesccnce dosimetry materials: properties and uses, Nuclear Technology Publishing, Ashford, 1995. P.214.

Петров H.H., Аброян И.А, Диагностика поверхности с помощью ионных пучкон. U Л.: изд-во Ленинград, ун-та. 1977, 159 с.

Дробиич В.Г., Поп С.С., Есаулов В.А. Доплеровская томография отлегаю-

щих от поверхности частиц, і і Ужгород: вид-во "Закарпаття", 1998, 125 с.

Дробнич В,Г,, Коноплев А.Н., Криц-кий В,А., Охрименко С.В, Оптический метод и аппаратура для исследования дифференциальных характеристик распыления и рассеяния. // Материалы XI конференции "Взаимодействие ионов с поверхностью''. М. 1993. Т,2. С. 142-144,

Поп С.С., Белых С.Ф,, Дробнич В.Т., Ферлегер R.X, Ионно-фотонная эмиссия металлов. // Ташкент: изд-во 'ФАН" Узбекской ССР, 1989. 198 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

1999-12-31

Номер

Том 5 (1999)

Розділ

Статті

Ліцензія

Авторське право (c) 1999 Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.

Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
    1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
    2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
    3. Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).