Вплив температури на дисперсію показника заломлення стекол As<sub>X</sub>S<sub>1−X</sub>

Автор(и)

  • І. Й. Росола Ужгородський національний університет, Україна
  • О. І. Чобаль Ужгородський національний університет, Україна
  • В. М. Різак Ужгородський національний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2019.46.30-39

Ключові слова:

Склоподібний, Синтез, Рефракція, Показник заломлення, Одноосциляторна модель, Енергія електронного осцилятора, Дисперсійна енергія, Коефіцієнт поляризованості

Анотація

Досліджено дисперсію показника заломлення n(λ) стекол AsXS1X в області концентрацій від X = 0, 20 до X = 0, 40 п’яти складів у температурному інтервалі від 80 до 370 К. Експериментальні результати n(λ) стекол AsXS1X описано за допомогою одноосциляторної моделі Вемпле і Ді Доменіко. На основі експериментальних результатів розраховано атомні рефракції та коефіцієнт поляризованості стекол системи AsXS1X, а також пояснено їх температурну поведінку та концентраційну залежність. Одержано, що основний вклад у температурну поведінку показника заломлення дає теплове розширення матеріалу.

Посилання

Batsanov, S.S. (1979), Structural refractometry [Strukturnaya refraktometriya], Vysshaya shkola, Moscow, 302 p.

Rosola, I.Y. (1985), Investigation of the structure of glassy semiconductors of the Ge-As-S-I system using IR and Raman spectroscopy: Author’s thesis [Issledovaniye struktury stekloobraznykh poluprovodnikov sistemy Ge-As-S-I metodami IK- i KR- spektroskopii: avtoref. dis. ... Kand. fiz.-mat. Nauk], Kishinev, 20 p.

Rosola, I.Y., Levko, I.V (2013), “The dispersion properties of glasses AsXS1−X” [Dyspersiyni vlastyvosti stekol AsXS1−X], Uzhhorod University Scientific Herald. Series Physics [Nauk. Visn. Uzhhorod. Univ. Ser. Fiz.], Iss. 33, pp. 110–116

Adam, J. L., Zhang X. (2014), Chalcogenide glasses: preparation, properties and applications, Woodhead publishing, 704 P.

Zakery, A., & Elliott, S. R. (2003). Optical properties and applications of chalcogenide glasses: a review. Journal of Non-Crystalline Solids, 330(1-3), 1-12.

Zhang, X., Ma, H., & Lucas, J. (2003). Applications of chalcogenide glass bulks and fibres. J. Optoelectron. Adv. Mater, 5(5), 1327-1333.

Tsiulyanu, Д., Marian, S., Liess, H. L., & Eisele, І. (2003). Chalcogenide based gas sensors. J. of Optoelec. and Advanc. Mat, 5(5), 1349-1354.

Rosola, I.I., Puga, P.P., Chepur, D.V. (1981), “The reduced density of vibrational states and structural features in glasses of the As-S system” [Privedennaya plotnost’ kolebatel’nykh sostoyaniy i strukturnyye osobennosti v steklakh sistemy As-S], Complex semiconductors (production, properties, application) [Slozhnyye poluprovodniki (polucheniye, svoystva, primeneniye)], Uzhgorod University Publishing, pp. 83–92.

Khiminets, V.V., Pynzenyk, V.P., Khiminets, O.V. (1982), New glassy semiconductors for optoelectronics [Novyye stekloobraznyye poluprovodniki dlya optoelektroniki], Prospect of the Exhibition of Economic Achievements of the USSR [Prospekt VDNKH SSSR], Uzhgorod, 7 p.

Khiminets, V.V., Pynzenyk, V.P., et.al (1983), “Chalcogenide glasses in the Ge-As-S-J system” [Khal’kogenidnyye stekla v sisteme Ge-As-S-J], Information leaflet on scientific and technological achievement [Informatsionnyy listok o nauchno-tekhnicheskom dostizhenii], Publishing house of Lviv INTI, Lviv, 4 p.

Rizak, V. M., Rizak, I.M., Semak, D.G. (2001) Functional Chalcogenide Semiconductors [Funktsionalʹni khalʹkohenidni napivprovidnyky], Transcarpathia, Uzhhorod, 152 p.

Puga, P.P., Kovach, D.Sh., Zuban, V.A., Borets A.N. (1984), “Temperature refractometric unit based on the optical dividing head ODG-10” [Temperaturnaya refraktometricheskaya ustanovka na baze opticheskoy delitel’noy golovki ODG-10], Metrological support of production and instrumentation [Metrologicheskoye obespecheniye proizvodstva i kontrol’noizmeritel’nayatekhnika], Uzhgorod, pp. 43–47

Ioffe, B.T. (1974), Refractometric chemistry methods. 2nd ed. [Refraktometrichesiye metody khimii. 2-ye izd.], Chemistry, Leningrad, 400 p.

Moss, T. (1961), Optical properties of semiconductors [Opticheskiye svoystva poluprovodnikov], Foreign Literature Publishing House, Moscow, 304 p.

Wemple, S.H., Di Domenico, M. (1971), “Behavior of the dielectric constant in covalent and ionic materials”, Phys. Rev. B., V. 3, No. 4, pp. 1338–1352.

Wemple, S.H. (1973), “Refractive-index behavior of amorphous semiconductors and glass”, Phys. Rev. B., V. 7, No. 8, pp. 3767–3777.

Prod’homme, L. (1960), “A new approach to the thermal change in the refractive index of glasses”, Phys. Chem. Glasses, No. 1, pp. 119–122.

##submission.downloads##

Опубліковано

2019-12-31

Номер

Розділ

Статті