Природа хімічного зв’язку в стеклах (As<sub>2</sub>S<sub>3</sub>)<sub>Х</sub>(AsJ<sub>3</sub>)<sub>1-X</sub>

Автор(и)

  • І. Й. Росола Ужгородський національний університет, Україна
  • О. Й. Гецел Ужгородський національний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.24144/2415-8038.2015.37.104-110

Ключові слова:

Синтез, склоподібний, рефракція, квазіконстанти, характеристичні енергії

Анотація

Експериментальні результати дисперсії показника заломлення n(λ) стекол (As2S3)Х(AsJ3)1-X описано за допомогою оптико-рефрактометричного співвідношення Борця та визначено ОР-квазіконстанти ηs і характеристичні енергії дисперсії Es. Одержано, що для склоподібного As2S3, який знаходиться на розглядуваному розрізі, найкраще співпадіння з експериментом дав розрахунок по адитивним ковалентним рефракціям елементів, а при 30ч50 мол.% AsJ3 – по кристалічним іонним рефракціям при наступній схемі хімічного зв’язку: As3+S2–J–.

Посилання

Чернов А.П., Дембовский С.А., Кириленко И.А. Диаграммы состояния As2Х3–AsJ3 (X=S,Se) //Изв. АН СССР. Неорган. материалы. –1970. –Т.6, №2. –С.262-265.

Чернов А.П., Дембовский С.А., Махова В.И. Вязкость и структура стекол системы As2S3–AsJ3 // Изв. АН СССР. Неорган. материалы. –1970. –Т.6, №4. –С.823-825.

Борисова З.У., Михайлов В.Н., Кулешина А.Н. Электропроводность иодосодержащих стекол //ЖПХ. –1972. –Т.45, вып.6. –С.1198-1203.

Михайлов В.Н., Байдаков А.Н. Температурная зависимость магнитной восприимчивости стеклообразных AsSeJ и AsSJ //Изв. АН СССР. Неорган. материалы. –1972. –Т.8, №8. –С.1384-1387.

Полтавцев Ю.Г. Рентгенографические исследования AsSJ и AsSeJ в стеклообразном и расплавленном со стояниях // Изв. АН СССР. Неорган. материалы. –1975. –Т.11, №10. –С.1742-1745.

Химинец В.В., Пинзеник В.П., Росола И.И., Зацаринная Т.А., Крамаренко А.Н. Физико-химические, оптические свойства и строение стекол системы As-S-J //УФЖ. –1987. –Т.32, №11. –С.1707-1712.

Росола И.И., Пуга П.П., Химинец В.В., Чепур Д.В. Инфракрасные спектры и спектры деполяризации комбинацион-ного рассеяния света в стеклах системы (As2S3)Х(AsJ3)1-X //Оптика и спектро-скопия. –1983. –Т.55, вып.4. –С.595-599.

Koudelka L., Pisarčik M. Raman spectra and structure of As-S-J system glasses //J. Non-Cryst. Solids. –1984. –V.64, N1. –P.87-94.

Борец А.Н. Соотношение между шириной псевдощели и показателем преломления неметаллических веществ //УФЖ. –1980. –Т.25, №4. –С.680-681.

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия. –М.: Высшая школа, 1979. –302 с.

Пуга П.П., Ковач Д.Ш., Зубань В.А., Борец А.Н. Температурная рефрактометрическая установка на базе оптической делительной головки ОДГ-10 //Метрологическое обеспечение производства и контрольноизмерительная техника. –Ужгород, 1984. –С.43-47.

Иоффе Б.Т. Рефрактометричесие методы химии. –2-е изд. перераб. и доп. –Л.: Химия, 1974. -400 с.

Мосс Т. Оптические свойства полупроводников. –М.: Изд-во Иностр. литерат., 1961. –304 с.

Wemple S.H., Di Domenico M. Behavior of the dielectric constant in covalent and ionic materials. //Phys. Rev. B. –1971. –V.3, No.4. –P.1338-1352.

Wemple S.H. Refractive-index behavior of amorphous semiconductors and glass. //Phys. Rev. B. –1973. –V.7, No.8. –P.3767-3777.

Росола І.Й., Левко І.В. Дисперсійні властивості стекол AsХS1-Х //Науковий вісник Ужгородського ун-ту. Серія Фізика. –2013. –Вип.33. –С. 7-14.

Росола И.И. Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии //Автореф. дис. канд. физ.-мат.наук. –Кишинев, 1985. –20 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2015-07-01

Номер

Розділ

Статті