DOI: https://doi.org/10.15587/2312-8372.2014.27934

Analysis of causes degradation of materials of discrete devices of computer systems

Артур Анатолійович Златкін, Ольга Віталіївна Кравченко, Олександр Сергійович Вовчановський

Abstract


Definition of reliability was given and classification of failures of discrete devices was performed in the paper. Long life cycle of computer systems should be provided by both functional, software components and physical hardware. One of the conditions of physical hardware is reliability of discrete devices of computer systems.

The analysis of the physics of failures was carried out. The concentration of substances, penetrating into the material and the level of energy effects depend on the quality of the element protection against external and internal operating factors. An increase in the intensity of their influence on the element increases the rate of physical and chemical processes, resulting in reversible and irreversible changes in materials. The physical nature of failures is based on the practical problems of determining reliability of discrete devices. Herewith, it is necessary to consider the causes of failures and construction of correct mathematical models.

For the analysis of the reliability of information computer systems, mathematical models on the reliability theory were developed. We have developed and described a composite material model, reflecting the behavior of discrete material taking into account completed physical processes in the material. In the analysis of metal-nonmetal, metal-metal systems, there is a special area - a thin layer that has physicochemical properties, different from that of the main components. This layer is responsible for the contact strength and is the link between phases. The numerical implementation of these tasks was carried out according to the developed algorithm using the existing mathematical software with some additions.

Keywords


reliability; failure; discrete device; composite material; analysis

References


Gotra, Z. Yu., Nikolaev, I. M. (1978). Kontrol' kachestva i nadezhnost' mіkroshem. M.: Radio i sviaz', 168.

Pogrebinskiy, S. B., Strel'nikov, V. P. (1988). Proektirovanie i nadezhnost' mnogoprotsessornyh EVM. M.: Radio i sviaz', 165.

Shor, Ya. B. (1962). Statisticheskie metody analiza kontrolia kachestva i nadezhnosti. M.: Sov. Radio, 552.

Matov, V. I., Belousov, Yu. A., Fedoseev, E. P. (1988). Bortovye tsifrovye vychislitel'nye mashiny i sistemy. M.: Vyssh. shk., 216.

Kapur, K., Lamberson, L.; Translation from English Kovalenko, E. G.; In: Ushakova, I. A. (1980). Nadezhnost' i proektirovanie sistem. M.: Mir, 604.

Liashok, A. P., Rossoshinskiy, A. A., Shevchenko, E. S. (1968). O prichine otkazov mikrosvarnyh soedineniy zoloto-aliuminiy v integral'nyh shemah. Elektronnnaia tehnika. Ser. 6. Mikroielektronika, V. 3, 74–79.

Goriunov, N. N. (1970). Svoystva poluprovodnikovyh priborov pri dlitel'noy rabote i hranenii. Moskva: Energiia, 103.

Hansen, M., Anderko, K. (1962). Struktura dvoynyh splavov. Moskva: Metallurgizdat, 608.

Sidniaev, N. I., Savchenko, V. P., Klochkova, D. V. (2013). Analiz fiziki otkazov dlia otsenki pokazateley nadezhnosti radioielektronnyh priborov sovremennyh radiolokatsionnyh sistem. Inzhenernyy zhurnal: nauka i innovatsii, № 12(24). Available: http://engjournal.ru/catalog/appmath/hidden/1149.html.

In: Kolesnikov, V. G. (1991). Osnovnye tverdotel'nye pribory, ispol'zuemye v ielektronnyh ustroystvah. Elektronika. Entsiklopedicheskiy slovar'. Moskva: Sov. ientsiklopediia, 688.

Kravchenko, O. V. (2003). Matematichna model' mіzhfazovoi vzaiemodіi v kompozitah ta utochnennia modelі metodami obchisliuval'noi matematiki. Vіsnik Shіdnoukrains'kogo natsіonal'nogo unіversitetu іm. V. Dalia, № 7(65), 84–88.


GOST Style Citations


Готра, З. Ю. Контроль качества и надежность микросхем [Текст]: учеб. пособие / З. Ю Готра, И. М. Николаев. – М.: Радио и связь,1978. – 168 с.

Погребинский, С. Б. Проектирование и надежность многопроцессорных ЭВМ [Текст]/ С. Б. Погребинский, В. П. Стрельников. – М.: Радио и связь, 1988. – 165 с.

Шор, Я. Б. Статистические методы анализа контроля качества и надежности [Текст]/ Я. Б. Шор. – М.: Сов. Радио, 1962. – 552 с.

 Матов, В. И. Бортовые цифровые вычислительные машины и системы [Текст]: учеб. пособие / В. И. Матов, Ю. А. Белоусов, Е. П. Федосеев. – М.: Высш. шк., 1988. – 216 с.

 Капур, К. Надежность и проектирование систем [Текст]/ К. Капур, Л. Ламберсон; пер. с англ. Е. Г. Коваленко; под ред. И. А. Ушакова. – М.: Мир, 1980. – 604 с.

Ляшок, А. П. О причине отказов микросварных соединений золото—алюминий в интегральных схемах [Текст]/ А. П. Ляшок, А. А. Россошинский, Е. С. Шевченко// Электроннная техника. Сер. 6. Микроэлектроника. – 1968. – Вып. 3. – С. 74–79.

Горюнов, Н. Н. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении [Текст]/ Н. Н. Горюнов. – Москва: Энергия, 1970. – 103 с.

Хансен, М. Структура двойных сплавов [Текст]: справочник/ М. Хансен, К. Андерко. – Москва: Металлургиздат, 1962. – 608 с.

Сидняев, Н. И. Анализ физики отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных приборов современных радиолокационных систем [Текст]/ Н. И. Сидняев, В. П. Савченко, Д. В. Клочкова // Инженерный журнал: наука и инновации. – 2013. – № 12 (24). – Режим доступа: \www/URL: http://engjournal.ru/catalog/appmath/hidden/1149.html.

Колесников, В. Г. Основные твердотельные приборы, используемые в электронных устройствах. Электроника. Энциклопедический словарь [Текст]/ под ред. В. Г. Колесников. – Москва: Сов. энциклопедия, 1991. – 688 с.

Кравченко, О. В. Математична модель міжфазової взаємодії в композитах та уточнення моделі методами обчислювальної математики [Текст]/ О. В. Кравченко// Вісник Східноукраїнського національного університету ім. В. Даля. – Луганськ, 2003. – № 7 (65). – С. 84–88.







Copyright (c) 2016 Артур Анатолійович Златкін, Ольга Віталіївна Кравченко, Олександр Сергійович Вовчановський

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.

ISSN (print) 2664-9969, ISSN (on-line) 2706-5448