Аналіз причин деградації матеріалів дискретних пристроїв комп’ютерних систем

Автор(и)

  • Артур Анатолійович Златкін Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006, Україна https://orcid.org/0000-0002-9996-6838
  • Ольга Віталіївна Кравченко Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006, Україна https://orcid.org/0000-0002-9669-2579
  • Олександр Сергійович Вовчановський Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006, Україна https://orcid.org/0000-0003-3754-3925

DOI:

https://doi.org/10.15587/2312-8372.2014.27934

Ключові слова:

надійність, відмова, дискретний пристрій, композитний матеріал, аналіз

Анотація

Деградація матеріалу дискретного пристрою призводить до передчасного зношення та провокуванню неправильного проходження струму в  переходах. З’ясування причин деградації дозволить попередньо оцінювати можливі ризики.

В статті дано означення надійності та виконано класифікацію відмов дискретних пристроїв; проведено аналіз фізики відмов; описано модель композитних матеріалів, що відображає поведінку матеріалу дискретного пристрою з врахуванням завершених фізичних процесів в самому матеріалі.

Біографії авторів

Артур Анатолійович Златкін, Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006

Доктор технічних наук, професор

Кафедра інформаційних технологій проектування

Ольга Віталіївна Кравченко, Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006

Старший викладач

Кафедра інформаційних технологій проектування

Олександр Сергійович Вовчановський, Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка 460, м. Черкаси, 18006

Кафедра інформаційних технологій проектування

Посилання

  1. Gotra, Z. Yu., Nikolaev, I. M. (1978). Kontrol' kachestva i nadezhnost' mіkroshem. M.: Radio i sviaz', 168.

    Pogrebinskiy, S. B., Strel'nikov, V. P. (1988). Proektirovanie i nadezhnost' mnogoprotsessornyh EVM. M.: Radio i sviaz', 165.

    Shor, Ya. B. (1962). Statisticheskie metody analiza kontrolia kachestva i nadezhnosti. M.: Sov. Radio, 552.

    Matov, V. I., Belousov, Yu. A., Fedoseev, E. P. (1988). Bortovye tsifrovye vychislitel'nye mashiny i sistemy. M.: Vyssh. shk., 216.

    Kapur, K., Lamberson, L.; Translation from English Kovalenko, E. G.; In: Ushakova, I. A. (1980). Nadezhnost' i proektirovanie sistem. M.: Mir, 604.

    Liashok, A. P., Rossoshinskiy, A. A., Shevchenko, E. S. (1968). O prichine otkazov mikrosvarnyh soedineniy zoloto-aliuminiy v integral'nyh shemah. Elektronnnaia tehnika. Ser. 6. Mikroielektronika, V. 3, 74–79.

    Goriunov, N. N. (1970). Svoystva poluprovodnikovyh priborov pri dlitel'noy rabote i hranenii. Moskva: Energiia, 103.

    Hansen, M., Anderko, K. (1962). Struktura dvoynyh splavov. Moskva: Metallurgizdat, 608.

    Sidniaev, N. I., Savchenko, V. P., Klochkova, D. V. (2013). Analiz fiziki otkazov dlia otsenki pokazateley nadezhnosti radioielektronnyh priborov sovremennyh radiolokatsionnyh sistem. Inzhenernyy zhurnal: nauka i innovatsii, № 12(24). Available: http://engjournal.ru/catalog/appmath/hidden/1149.html.

    In: Kolesnikov, V. G. (1991). Osnovnye tverdotel'nye pribory, ispol'zuemye v ielektronnyh ustroystvah. Elektronika. Entsiklopedicheskiy slovar'. Moskva: Sov. ientsiklopediia, 688.

    Kravchenko, O. V. (2003). Matematichna model' mіzhfazovoi vzaiemodіi v kompozitah ta utochnennia modelі metodami obchisliuval'noi matematiki. Vіsnik Shіdnoukrains'kogo natsіonal'nogo unіversitetu іm. V. Dalia, № 7(65), 84–88.

##submission.downloads##

Опубліковано

2014-10-02

Як цитувати

Златкін, А. А., Кравченко, О. В., & Вовчановський, О. С. (2014). Аналіз причин деградації матеріалів дискретних пристроїв комп’ютерних систем. Technology Audit and Production Reserves, 5(3(19), 37–41. https://doi.org/10.15587/2312-8372.2014.27934