Розробка засобу контролю геометричних параметрів малогабаритних об’єктів складної форми
DOI:
https://doi.org/10.15587/2312-8372.2015.51940Ключові слова:
субпікселні координати, малогабаритні об’єкти складної форми, контроль геометричних параметрівАнотація
Запропоновано засіб контролю геометричних параметрів малогабаритних об’єктів складної форми та його програмне забезпечення, основними етапами якого є установка двох порогів бінаризації, що дозволяє вирівняти інтенсивність та зменшити шумові складові в контурі; знаходження координат із субпікселною точністю та введення поправки на різкість.
Посилання
- Bilynskyi, Y., Sukhotska, I., Yukysh, S. (2014). Metod znakhodzhennia subpikselnykh koordynat konturnykh tochok zobrazhennia obiekta, otrymanykh taktylno-optychnym sensorom. Visnyk Kremenchutskoho natsionalnoho universytetu im. Mykhaila Ostrohradskoho, 3, 94–99.
- Zuikov, A. (2013). Povyshenie tochnosti koordinatnyh izmerenii geometricheskih parametrov obiektov v komp'iuternoi mikroskopii s dopolnitel'nym telom v zone izmereniia. Moscow: Moscow State University of Technology «STANKIN», 22.
- Kondratov, V. (2001).Vizualizatsiia v metrologi: uroni, napravleniia, tseli, zadachi, metody i programmnoe obespechenie. Vymiriuvalna ta obchysliuvalna tekhnika v tekhnolohichnykh protsesakh, 1, 7–22
- Ermolov, I., Ostanin, Yu. (2002). Metody i sredstva nerazrushaiushchego kontrolia kachestva. Moscow: Vysshaia shkola, 368.
- Gluhov, V. (2012). Metrologicheskoe obespechenie kachestva po tochnosti geometricheskih velichin. Omsk: OmSTU, 140.
- Bilynskyi, Y. (2010). Metody obrobky zobrazhennia v kompiuteryzovanykh optyko-elektronnykh systemakh. Vinnytsia: VNTU, 272.
- Nesterov, V., Muhin, V., Meshchanov, A. (2013). Metod mnogomernyh testovyh obiektov v opticheskih izmeritel'nyh sistemah. Samara: SNTsRAN, 224.
- Malysheva-Stroikova, A. (2014). Optoelektronnye ustroistva distantsionnogo kontrolia geometricheskih parametrov profil'nyh obiektov. Moscow, 188.
- Fu, K., Gonsales, R., Li, K. (1989). Robototehnika. Moscow: Mir, 624.
- A Threshold Selection Method from Gray-Level Histograms. (1979). IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics, Vol. 9, № 1, 62–66. doi:10.1109/tsmc.1979.4310076
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2016 Технологічний аудит та резерви виробництва
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Закріплення та умови передачі авторських прав (ідентифікація авторства) здійснюється у Ліцензійному договорі. Зокрема, автори залишають за собою право на авторство свого рукопису та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons CC BY. При цьому вони мають право укладати самостійно додаткові угоди, що стосуються неексклюзивного поширення роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом, але за умови збереження посилання на першу публікацію статті в цьому журналі.