Розробка інтегрованої системи контролю топологічних елементів оптичних шкал та сіток

Автор(и)

  • Валентин Іванович Гордієнко НВК «Фотоприлад», вул. Б. Вишневецького, 85, м. Черкаси, Україна, 18001, Україна https://orcid.org/0000-0002-7465-2226
  • Наталія Володимирівна Качур Інститут фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України, пр. Науки 41, м. Київ, Україна, 03028, Україна https://orcid.org/0000-0001-6868-8452
  • Ольга Миколаївна Маркіна Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», пр. Перемоги 37, м. Київ, Україна, 03056, Україна https://orcid.org/0000-0002-4406-1644
  • Володимир Петрович Маслов Інститут фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України, пр. Науки 41, м. Київ, Україна, 03028, Україна https://orcid.org/0000-0001-7795-6156

DOI:

https://doi.org/10.15587/2312-8372.2015.44395

Ключові слова:

оптична система, геометричний розмір, мікроскоп, міра, шкали та сітки, LED-екран

Анотація

Розроблено науково-технічний підхід для створення інтегральної вимірювальної системи для технологічного аудиту та контролю геометричних розмірів топологічних елементів оптичних шкал та сіток. Проаналізовано чинники, які впливають на величину корисного сигналу та експериментально показано переваги LED-екрану як освітлювача перед галогенною лампою в розробленій вимірювальній системі. Проведені експерименти дозволили визначити оптимальні умови вимірювань.

Біографії авторів

Валентин Іванович Гордієнко, НВК «Фотоприлад», вул. Б. Вишневецького, 85, м. Черкаси, Україна, 18001

Доктор технічних наук, головний конструктор, заступник генерального директора

Наталія Володимирівна Качур, Інститут фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України, пр. Науки 41, м. Київ, Україна, 03028

Молодший науковий співробітник

Відділ фізико-технологічних основ сенсорного матеріалознавства

Ольга Миколаївна Маркіна, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», пр. Перемоги 37, м. Київ, Україна, 03056

Старший викладач

Кафедра наукових, аналітичних та екологічних приладів і систем

Володимир Петрович Маслов, Інститут фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України, пр. Науки 41, м. Київ, Україна, 03028

Доктор технічних наук, доцент, старший науковий співробітник, завідувач відділу

Відділ фізико-технологічних основ сенсорного матеріалознавства

Посилання

  1. Maslov, V. (2012). Improving the accuracy of measurement of linear dimensions microdefects in detail with optically transparent materials through television vehicles. Methods and Devices for Quolity Control, 29, 96-101.
  2. Tan, J. (2003, October 1). Differential confocal optical system using gradient-index lenses. Optical Engineering, 42 (10), 2868–2871. doi:10.1117/1.1602459
  3. Youk, Y., Kim, D. Y. (2005, August). A Confocal Scanning Optical Microscope System for Measuring Refractive Index Profiles of Specialty Optical Waveguides. Microscopy and Microanalysis, 11 (S02), 726-727. doi:10.1017/s1431927605505269
  4. Li, Q., Lifen, B., Shifu, X., Luyun, Ch. (2002, June 1). Autofocus system for microscope. Optical Engineering, 41 (6), 1289–1294. doi:10.1117/1.1473639
  5. Török, P., Kao, F.-J. (2007). Optical Imaging and Microscopy. Optical Sciences. Berlin, Heidelberg: Springer, 497. doi:10.1007/978-3-540-69565-3
  6. Huang, B. (2010, February). Super-resolution optical microscopy: multiple choices. Current Opinion in Chemical Biology, 14 (1), 10–14. doi:10.1016/j.cbpa.2009.10.013
  7. Yazdanfar, S., Kenny, K. B., Tasimi, K., Corwin, A. D., Dixon, E. L., Filkins, R. J. (2008). Simple and robust image-based autofocusing for digital microscopy. Optics Express, 16 (12), 8670–8677. doi:10.1364/oe.16.008670
  8. Shimobaba, T., Sato, Y., Miura, J., Takenouchi, M., Ito, T. (2008). Real-time digital holographic microscopy using the graphic processing unit. Optics Express, 16 (16), 11776–11781. doi:10.1364/oe.16.011776
  9. Markina, O., Kachur, N., Maslov, V.; assignee: Markina, O., Kachur, N., Maslov, V. (2014, December 25). The Method Of Determining The Geometric Dimensions Micro-Scale Transparent Objects Transparent Objects. Patent UA 95615. Appl. № u 2014 08497. Filed 25.07.2014. Bull. № 24, 3.
  10. Maslov, V. (2013). Logistic Approach to the Dependence of Efficiency of Scientific-and-Technical Projects on Resources. Journal of Business and Management Sciences, 1 (2), 14-17. doi:10.12691/jbms-1-2-1

##submission.downloads##

Опубліковано

2015-05-28

Як цитувати

Гордієнко, В. І., Качур, Н. В., Маркіна, О. М., & Маслов, В. П. (2015). Розробка інтегрованої системи контролю топологічних елементів оптичних шкал та сіток. Technology Audit and Production Reserves, 3(1(23), 51–55. https://doi.org/10.15587/2312-8372.2015.44395

Номер

Том 3 № 1(23) (2015): Енергетика, енергозберігаючі технології та обладнання. Електротехніка та промислова електроніка

Розділ

Машинознавство та машинобудування

Ліцензія

Авторське право (c) 2016 Технологічний аудит та резерви виробництва

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Закріплення та умови передачі авторських прав (ідентифікація авторства) здійснюється у Ліцензійному договорі. Зокрема, автори залишають за собою право на авторство свого рукопису та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons CC BY. При цьому вони мають право укладати самостійно додаткові угоди, що стосуються неексклюзивного поширення роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом, але за умови збереження посилання на першу публікацію статті в цьому журналі.