Water light scattering in weak electric field

Authors

  • Алексей Юрьевич Бордюк Херсонский национальный технический университет Бериславское шоссе, 24, г. Херсон, Украина, 73008, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2011.1411

Keywords:

Light scattering, water cluster, phase transitions

Abstract

The influence of a constant electric field on the structure of water was investigated. Changes of water structure is dependent on exposure time, the initial set and concentration of water clusters and are due to the dipole moments of water clusters and molecules

Author Biography

Алексей Юрьевич Бордюк, Херсонский национальный технический университет Бериславское шоссе, 24, г. Херсон, Украина, 73008

Аспирант

Кафедра физической и биомедицинской электроники

References

  1. Дубов, Д. Ю. Дипольный момент малого кластера воды. Влияние размера, температуры, электрического поля [Текст] / Д. Ю. Дубов, А. А. Востриков //, Письма в ЖЭТФ. —2010.—Т92, №1. — С. 34–39
  2. Dyke, T. R. The structure of waterdimer from molecular beam electric resonance spectroscopy [Текст] / T.R. Dyke, K.M., J.S. Mack Muenter.// J. Chem. Phys. —1977. — V. 66, N 2, — P. 498-510.
  3. Gregory, J.K. The Water Dipole Moment in Water Clusters [Текст] / J.K.Gregory, D.C.Clary, K.Liu, M.G.Brown, R.J. Saykally // Science. —1997. —V. 275. —P. 814-817.
  4. Moro, R. Electric dipole moments of water clusters from a beam deflection measurement [Текст] / R. Moro, R. Rabinovich, С. Xia, and V. Kresin // Phys. Rev. Lett. — 2006. —V. 97. N. 12. — P. 123401-12341
  5. Коваленко, В. Ф. Кластерная природа светорассеяния воды [Текст] / В.Ф. Коваленко, П.Г. Левченко, С.В Шутов // Биомедицинская радиоэлектроника. —2008. — №5. — С. 36-45.
  6. Коваленко, В.Ф. Интерференционные эффекты в светорассеянии биологических жидкостей [Текст] / В.Ф. Коваленко, С. В. Шутов, А.Ю. Бордюк //Биомедицинская радиоэлектроника. — 2009. — № 8. — С. 71-78.

How to Cite

Бордюк, А. Ю. (2011). Water light scattering in weak electric field. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 4(5(52), 66–68. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2011.1411