Забезпечення метрологічної простежуваності вимірювання електричної ємності в Україні

Автор(и)

  • Oleh Velychko Державне підприємство “Всеукраїнський державний науково-виробничий центр стандартизації, метрології, сертифікації та захисту прав споживачів” (ДП “Укрметртестстандарт”) вул. Метрологічна, 4, м. Київ, Україна, 03143, Україна https://orcid.org/0000-0002-6564-4144
  • Sergii Shevkun Державне підприємство “Всеукраїнський державний науково-виробничий центр стандартизації, метрології, сертифікації та захисту прав споживачів” (ДП “Укрметртестстандарт”) вул. Метрологічна, 4, м. Київ, Україна, 03143, Україна https://orcid.org/0000-0003-1923-6227

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2017.101897

Ключові слова:

звірення еталонів, метрологічна простежуваність, електрична ємність, національний метрологічний інститут, калібрувальні та вимірювальні можливості

Анотація

Проведено порівняльний аналіз отриманих у міжнародних звіреннях національних еталонів одиниць електричної ємності результатів з метою оцінювання збіжності. Встановлені ступені еквівалентності еталонів учасників звірень та розширені невизначеності для номіналів мір 10 пФ і 100 пФ на частотах 1 кГц і 1,592 кГц. Запропонована методика оцінювання невизначеності вимірювань у діапазоні значень ємності від 10 пФ до 10 нФ

Біографії авторів

Oleh Velychko, Державне підприємство “Всеукраїнський державний науково-виробничий центр стандартизації, метрології, сертифікації та захисту прав споживачів” (ДП “Укрметртестстандарт”) вул. Метрологічна, 4, м. Київ, Україна, 03143

Доктор технічних наук, професор, директор

Науково-виробничий інститут електромагнітних вимірювань

Sergii Shevkun, Державне підприємство “Всеукраїнський державний науково-виробничий центр стандартизації, метрології, сертифікації та захисту прав споживачів” (ДП “Укрметртестстандарт”) вул. Метрологічна, 4, м. Київ, Україна, 03143

Кандидат технічних наук, начальник відділу

Науково-дослідний відділ державних еталонів електромагнітних величин, часу і частоти

Посилання

  1. Measurement comparisons in the context of the CIPM MRA. CIPM MRA-D-05:2013 (2016). Available at: http://www.bipm.org/en/cipm-mra/cipm-mra-documents/
  2. The BIPM key comparison database (KCDB). Available at: http://kcdb.bipm.org/
  3. Text of the CIPM MRA. Available at: http://www.bipm.org/en/cipm-mra/cipm-mra-text/
  4. International vocabulary of metrology – Basic and general concepts and associated terms (VIM 3-rd edition). JCGM 200:2012. Available at: http://www.bipm.org/en/publications/guides/vim.html
  5. Velichko, O. N. (2009). Traceability of measurement results at different levels of metrological work. Measurement Techniques, 52 (11), 1242–1248. doi: 10.1007/s11018-010-9428-7
  6. Uncertainty of measurement. – Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM). JCGM 100:2008. Available at: http://www.bipm.org/en/publications/guides/gum.html
  7. Calibration and Measurement Capabilities in the context of the CIPM MRA. CIPM MRA-D-04:2013 (2013). Available at: http://www.bipm.org/en/cipm-mra/cipm-mra-documents/
  8. Velichko, O. N. (2010). Calibration and measurement capabilities of metrological institutes: features of preparation, examination, and publication. Measurement Techniques, 53 (6), 721–726. doi: 10.1007/s11018-010-9567-x
  9. Velychko, O., Gordiyenko, T. (2010). The implementation of general international guides and standards on regional level in the field of metrology. Journal of Physics: Conference Series, 238, 012044. doi: 10.1088/1742-6596/238/1/012044
  10. Cox, M. G. (2002). The evaluation of key comparison data. Metrologia, 39 (6), 589–595. doi: 10.1088/0026-1394/39/6/10
  11. Cox, M. G. (2007). The evaluation of key comparison data: determining the largest consistent subset. Metrologia, 44 (3), 187–200. doi: 10.1088/0026-1394/44/3/005
  12. Mana, G., Massa, E., Predescu, M. (2012). Model selection in the average of inconsistent data: an analysis of the measured Planck-constant values. Metrologia, 49 (4), 492–500. doi: 10.1088/0026-1394/49/4/492
  13. Jeffery, A.-M. (2002). Final report on key comparison CCEM-K4 of 10 pF capacitance standards. Metrologia, 39 (1A), 01003–01003. doi: 10.1088/0026-1394/39/1a/3
  14. Delahaye, F., Witt, T. J. (2002). Linking the results of key comparison CCEM-K4 with the 10 pF results of EUROMET.EM-K4. Metrologia, 39 (1A), 01005–01005. doi: 10.1088/0026-1394/39/1a/5
  15. Johnson, L., Chua, W., Corney, A., Hsu, J., Sardjono, H., Lee, R. D. et. al. (2009). Final report on the APMP comparison of capacitance at 10 pF: APMP.EM-K4.1. Metrologia, 46 (1A), 01003–01003. doi: 10.1088/0026-1394/46/1a/01003
  16. Johnson, L., Chua, W., Corney, A., Hsu, J., Sardjono, H., Lee, R. D. et. al. (2008). Final report on the APMP comparison of capacitance at 100 pF (APMP supplementary comparison APMP.EM-S7). Metrologia, 45 (1A), 01003–01003. doi: 10.1088/0026-1394/45/1a/01003
  17. Velychko, O., Akhamadov, O. (2017). Final report on COOMET key comparison of capacitance at 10 pF (COOMET.EM-K4). Metrologia, 54 (1A), 01005–01005. doi: 10.1088/0026-1394/54/1a/01005
  18. Velychko, O., Akhamadov, O. (2017). Final report on COOMET key comparison of capacitance at 100 pF (COOMET.EM-S4). Metrologia, 54 (1A), 01006–01006. doi: 10.1088/0026-1394/54/1a/01006
  19. Velychko, O., Shevkun, S. (2015). Final report: COOMET supplementary comparison of capacitance at 10 pF and 100 pF (COOMET.EM-S13). Metrologia, 52 (1A), 01005–01005. doi: 10.1088/0026-1394/52/1a/01005
  20. Guidelines on COOMET key comparison evaluation. CООМЕТ R/GM/14:2016. Available at: http://www.coomet.org/DB/isapi/cmt_docs/2016/5/2BMD1O.pdf
  21. Guidelines on COOMET supplementary comparison evaluation. CООМЕТ R/GM/19:2016. Available at: http://www.coomet.org/DB/isapi/cmt_docs/

##submission.downloads##

Опубліковано

2017-06-15

Як цитувати

Velychko, O., & Shevkun, S. (2017). Забезпечення метрологічної простежуваності вимірювання електричної ємності в Україні. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 3(9 (87), 4–10. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2017.101897

Номер

Том 3 № 9 (87) (2017): Інформаційно-керуючі системи

Розділ

Інформаційно-керуючі системи

Ліцензія

Авторське право (c) 2017 Oleh Velychko, Sergii Shevkun

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Закріплення та умови передачі авторських прав (ідентифікація авторства) здійснюється у Ліцензійному договорі. Зокрема, автори залишають за собою право на авторство свого рукопису та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons CC BY. При цьому вони мають право укладати самостійно додаткові угоди, що стосуються неексклюзивного поширення роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом, але за умови збереження посилання на першу публікацію статті в цьому журналі.

Ліцензійний договір – це документ, в якому автор гарантує, що володіє усіма авторськими правами на твір (рукопис, статтю, тощо).
Автори, підписуючи Ліцензійний договір з ПП «ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ЦЕНТР», мають усі права на подальше використання свого твору за умови посилання на наше видання, в якому твір опублікований. Відповідно до умов Ліцензійного договору, Видавець ПП «ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ЦЕНТР» не забирає ваші авторські права та отримує від авторів дозвіл на використання та розповсюдження публікації через світові наукові ресурси (власні електронні ресурси, наукометричні бази даних, репозитарії, бібліотеки тощо).
За відсутності підписаного Ліцензійного договору або за відсутністю вказаних в цьому договорі ідентифікаторів, що дають змогу ідентифікувати особу автора, редакція не має права працювати з рукописом.
Важливо пам’ятати, що існує і інший тип угоди між авторами та видавцями – коли авторські права передаються від авторів до видавця. В такому разі автори втрачають права власності на свій твір та не можуть його використовувати в будь-який спосіб.