Комп'ютерне моделювання багатократних вимірювань логарифмічної функції перетворення по двом підходам

Автор(и)

  • Volodymyr Shcherban’ Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011, Україна https://orcid.org/0000-0002-4274-4425
  • Ganna Korogod Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011, Україна https://orcid.org/0000-0003-1670-3125
  • Oksana Kolysko Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011, Україна https://orcid.org/0000-0003-4043-1238
  • Mariana Kolysko Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011, Україна https://orcid.org/0000-0002-9982-7264
  • Yury Shcherban’ Державний вищий навчальний заклад «Київський коледж легкої промисловості» вул. Джона Маккейна, 29, м. Київ, Україна 01601, Україна https://orcid.org/0000-0001-5024-8387
  • Ganna Shchutska Державний вищий навчальний заклад «Київський коледж легкої промисловості» вул. Джона Маккейна, 29, м. Київ, Україна 01601, Україна https://orcid.org/0000-0002-7182-8556

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2020.218517

Ключові слова:

надлишкові методи, багатократні вимірювання, рівняння вимірювань, параметри функції, підвищення точності

Анотація

Проведеними дослідженнями можливостей методів надлишкових вимірювань встановлено високу ефективність представлених методів щодо підвищення точності багатократних вимірювань. Доведено, що рівняння надлишкових вимірювань забезпечує незалежність результату вимірювань від параметрів функції перетворення і їх відхилень від номінальних значень. Експериментальними дослідженнями підтверджено, що точність багатократних вимірювання підвищується за рахунок обробки результатів проміжних вимірювань за рівняннями надлишкових вимірювань по двом підходам. Зокрема встановлено, що обробка результатів багатократних вимірювань при логарифмічній функції перетворення за першим підходом забезпечує значення відносної похибки, що буде складати 0,75×10-3 %, а за другим – 0,02×10-3 %. Це дозволяє стверджувати, що, підвищення точності відбувається завдяки сумарному ефекту – забезпечується виключення систематичної складової похибки, обумовленої зміною параметрів функції перетворення, а також зменшення випадкової складової похибки. Останнє, зокрема, стосується алгоритмів обробки багатократних вимірювань по двом підходам. Проведено порівняльний аналіз та встановлені переваги і недоліки кожного з представлених двох підходів. Було встановлено, що другий підхід менш чутливий до збільшення різниці між значеннями контрольованої величиною і нормованої за значенням. Це дозволяє стверджувати про можливість вимірювання контрольованого параметру (Фх) великого значення без накладення високих вимог до потужностей джерела каліброваного випромінювання.

Є підстави стверджувати про перспективний розвиток методів надлишкових вимірювань при обробці результатів багатократних вимірювань в сфері підвищення точності при нелінійній функції перетворення

Біографії авторів

Volodymyr Shcherban’, Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011

Доктор технічних наук, професор, завідувач кафедри

Кафедра комп’ютерних наук та технологій

Ganna Korogod, Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011

Кандидат технічних наук, доцент

Кафедра комп’ютерних наук та технологій

Oksana Kolysko, Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011

Кандидат технічних наук, доцент

Кафедра комп’ютерних наук та технологій

Mariana Kolysko, Київський національний університет технологій та дизайну вул. Немировича-Данченка, 2, м. Київ, Україна, 01011

Кандидат технічних наук, доцент

Кафедра комп’ютерних наук та технологій

Yury Shcherban’, Державний вищий навчальний заклад «Київський коледж легкої промисловості» вул. Джона Маккейна, 29, м. Київ, Україна 01601

Доктор технічних наук, професор, завідувач кафедри

Кафедра технологій легкої промисловості

Ganna Shchutska, Державний вищий навчальний заклад «Київський коледж легкої промисловості» вул. Джона Маккейна, 29, м. Київ, Україна 01601

Доктор технічних наук, доцент, директор

Кафедра технологій легкої промисловості

Посилання

  1. Shcherban’, V., Melnyk, G., Sholudko, M., Kalashnyk, V. (2018). Warp yarn tension during fabric formation. Fibres and Textiles, 2, 97–104. Available at: http://vat.ft.tul.cz/2018/2/VaT_2018_2_16.pdf
  2. Shcherban’, V., Melnyk, G., Sholudko, M., Kolysko, O., Kalashnyk, V. (2018). Yarn tension while knitting textile fabric. Fibres and Textiles, 3, 74–83. Available at: http://vat.ft.tul.cz/2018/3/VaT_2018_3_12.pdf
  3. Pronin, A. N., Sapozhnikova, K. V., Taymanov, R. E. (2015). Reliability of measurement information in control systems. Problems and their solution. T-Comm., 9 (3), 32–37. Available at: https://cyberleninka.ru/article/n/dostovernost-izmeritelnoy-informatsii-v-sistemah-upravleniya-problemy-i-resheniya/viewer
  4. Genkina, R. I., Lukashov, Yu. E., Malikova, H. O., Osoka, I. V., Skovorodnikov, V. A. (2010). Govorim VNIIMS, podrazumevaem – zakonodatel'naya metrologiya! Zakonodatel'naya i prikladnaya metrologiya, 5, 8–15.
  5. Rishan, O. Y., Matvienko, N. V. (2014). Strukturni metody pidvyshchennia tochnosti vymiriuvan v avtomatychnykh systemakh dozuvannia sypkykh materialiv z vykorystanniam mahnitopruzhnykh pervynnykh vymiriuvalnykh peretvoriuvachiv zusyllia. Naukovo-tekhnichna informatsiya, 4, 47–51. Available at: http://nbuv.gov.ua/UJRN/NTI_2014_4_11
  6. Yanenko, O. P., Mikhailenko, S. V., Lisnichuk, A. S. (2014). Radiometric modulation measuring device of intensity of optical radiation. Visnyk Natsionalnoho tekhnichnoho universytetu Ukrainy "Kyivskyi politekhnichnyi instytut". Ser.: Radiotekhnika. Radioaparatobuduvannia, 56, 96–101. Available at: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKPI_rr_2014_56_11
  7. Munoz Zurita, A. L., Campos, J., Ferrero, A., Pons, A. (2012). Photodiodes as Optical Radiation Measurement Standards. Photodiodes - From Fundamentals to Applications. doi: https://doi.org/10.5772/51462
  8. Shcherban’, V., Makarenko, J., Petko, A., Melnyk, G., Shcherban’, Y., Shchutska, H. (2020). Computer implementation of a recursion algorithm for determining the tension of a thread on technological equipment based on the derived mathematical dependences. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 2 (1 (104)), 41–50. doi: https://doi.org/10.15587/1729-4061.2020.198286
  9. Su, Z., Liang, X. (2011). Computation and analysis on the Volt-Ampere characteristics of photodiode sensor under the certain conditions. 2011 4th International Congress on Image and Signal Processing. doi: https://doi.org/10.1109/cisp.2011.6100750
  10. Shcherban’, V., Melnyk, G., Sholudko, M., Kolysko, O., Kalashnyk, V. (2019). Improvement of structure and technology of manufacture of multilayer technical fabric. Fibres and Textiles, 2, 54–63. Available at: http://vat.ft.tul.cz/2019/2/VaT_2019_2_10.pdf
  11. Cherepanska, I. Yu., Bezvesilna, O. M., Sazonov, A. Yu. (2016). Do pytannia pidvyshchennia tochnosti kutovykh vymiriuvan honiometrychnymy systemamy. Visnyk Zhytomyrskoho derzhavnoho tekhnolohichnoho universytetu. Seriya: Tekhnichni nauky, 1 (76), 92–100. Available at: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vzhdtu_2016_1_12
  12. Haridy, M. A., Aslam, A. (2018). Optical Radiation Metrology and Uncertainty. Metrology. doi: https://doi.org/10.5772/intechopen.75205
  13. Shcherban’, V., Makarenko, J., Melnyk, G., Shcherban’, Y., Petko, A., Kirichenko, A. (2019). Effect of the yarn structure on the tension degree when interacting with high-curved guide. Fibres and Textiles, 4, 59–68. Available at: http://vat.ft.tul.cz/2019/4/VaT_2019_4_8.pdf
  14. Fan, Z., Gao, R. X., Wang, P., Kazmer, D. O. (2016). Multi-sensor data fusion for improved measurement accuracy in injection molding. 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings. doi: https://doi.org/10.1109/i2mtc.2016.7520465
  15. Orozco, L. (2011). Optimizing Precision Photodiode Sensor Circuit Design. Analog devices. Available at: https://www.analog.com/media/en/technical-documentation/tech-articles/Optimizing-Precision-Photodiode-Sensor-Circuit-Design-MS-2624.pdf
  16. Lewis, G., Merken, P., Vandewal, M. (2018). Enhanced Accuracy of CMOS Smart Temperature Sensors by Nonlinear Curvature Correction. Sensors, 18 (12), 4087. doi: https://doi.org/10.3390/s18124087
  17. Shcherban, V., Korogod, G., Chaban, V., Kolysko, O., Shcherban’, Y., Shchutska, G. (2019). Computer simulation methods of redundant measurements with the nonlinear transformation function. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 2 (5 (98)), 16–22. doi: https://doi.org/10.15587/1729-4061.2019.160830
  18. Kondratov, V. T. (2009). Teoriya izbytochnyh izmereniy: universal'noe uravnenie izmereniy. Visnyk Khmelnytskoho natsionalnoho universytetu. Tekhnichni nauky, 5, 116–129. Available at: http://journals.khnu.km.ua/vestnik/pdf/tech/2009_5/zmist.files/23kon.pdf
  19. Kondratov, V. T. (2010). Metody izbytochnyh izmereniy: osnovnye opredeleniya i klassifikatsiya. Visnyk Khmelnytskoho natsionalnoho universytetu. Tekhnichni nauky, 3, 220–232. Available at: http://journals.khnu.km.ua/vestnik/pdf/tech/2010_3/47kon.pdf
  20. Soboleva, N. A., Melamid, A. E. (1974). Fotoelektronnye pribory. Moscow: Vysshaya shkola, 376.
  21. Kondratov, V. T. (2007). Matematicheskie modeli izbytochnyh izmereniy I-go, II-go i III-go rodov. Fundamental'nye i prikladnye problemy priborostroeniya, informatiki i ekonomiki: nauchnye trudy X-y Yubileynoy Mezhdunar. nauch.-tehn. konf. Moscow: MGU PI, 134–143.
  22. Kondratov, V. T. (2015). Problems of processing of results repeated measuring transformations of physical quantity. Tezisy dokladov 15-y mezhdunar. nauch.-tehn. konf. «Vymiriuvalna ta obchysliuvalna tekhnika v tekhnolohichnykh protsesakh» (VOTTP-15 2015). Odessa, 9–12.

##submission.downloads##

Опубліковано

2020-12-31

Як цитувати

Shcherban’, V., Korogod, G., Kolysko, O., Kolysko, M., Shcherban’, Y., & Shchutska, G. (2020). Комп’ютерне моделювання багатократних вимірювань логарифмічної функції перетворення по двом підходам. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 6(4 (108), 6–13. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2020.218517

Номер

Том 6 № 4 (108) (2020): Математика та кібернетика - прикладні аспекти

Розділ

Математика та кібернетика - прикладні аспекти

Ліцензія

Авторське право (c) 2020 Volodymyr Shcherban, Ganna Korogod, Oksana Kolysko, Mariana Kolysko, Yury Shcherban’, Ganna Shchutska

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Закріплення та умови передачі авторських прав (ідентифікація авторства) здійснюється у Ліцензійному договорі. Зокрема, автори залишають за собою право на авторство свого рукопису та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons CC BY. При цьому вони мають право укладати самостійно додаткові угоди, що стосуються неексклюзивного поширення роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом, але за умови збереження посилання на першу публікацію статті в цьому журналі.

Ліцензійний договір – це документ, в якому автор гарантує, що володіє усіма авторськими правами на твір (рукопис, статтю, тощо).
Автори, підписуючи Ліцензійний договір з ПП «ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ЦЕНТР», мають усі права на подальше використання свого твору за умови посилання на наше видання, в якому твір опублікований. Відповідно до умов Ліцензійного договору, Видавець ПП «ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ЦЕНТР» не забирає ваші авторські права та отримує від авторів дозвіл на використання та розповсюдження публікації через світові наукові ресурси (власні електронні ресурси, наукометричні бази даних, репозитарії, бібліотеки тощо).
За відсутності підписаного Ліцензійного договору або за відсутністю вказаних в цьому договорі ідентифікаторів, що дають змогу ідентифікувати особу автора, редакція не має права працювати з рукописом.
Важливо пам’ятати, що існує і інший тип угоди між авторами та видавцями – коли авторські права передаються від авторів до видавця. В такому разі автори втрачають права власності на свій твір та не можуть його використовувати в будь-який спосіб.