Регрессионный анализ параметров кремниевых монокристаллических и пленочных аморфных фотопреобразователей

Автор(и)

  • Николай Иванович Слипченко Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники, Україна
  • Виктор Александрович Письменецкий Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники, Україна
  • Андрей Витальевич Фролов Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники, Україна
  • Николай Викторович Герасименко Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники, Україна

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2010.3304

Ключові слова:

аморфні, монокристалічний кремній, сонячний елемент, фотоперетворення

Анотація

У роботі відображені результати досліджень, виконаних у Харківському національному університеті радіоелектроніки, пов’язаних з розробкою і застосуванням статистичних регресійних моделей стосовно до кремнієвих монокристалічних ФП зі структурою n +-p-p +, а також до аморфних ФП.

Біографії авторів

Николай Иванович Слипченко, Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники

Доктор физико-математических наук, профессор, проректор по научной работе

Виктор Александрович Письменецкий, Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники

Кандидат технических наук, профессор

Андрей Витальевич Фролов, Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники

Кандидат технических наук, старший научный сотрудник

Николай Викторович Герасименко, Кафедра микроэлектронных приборов и устройств Харьковский национальный университет радиоэлектроники

Аспирант

Посилання

  1. Слипченко Н.И. Регрессионные технологические модели кремниевых монокристаллических фотопреобразователей./ Слипченко Н.И., Письменецкий В.А., Фролов А.В., Яновская Н.Н. // Известия вузов. Радиоэлектроника, НТУУ «КПИ», 2008, том 51, № 11. С. 41-49.
  2. Патент на винахід № 86167 від 25.03.2009 р. Пристрій для контролю параметрів фотоелектричних перетворювачів. Сліпченко М.І., Письменецький В.О., Кирилюк А.А., Яновська Н.М., Фролов А.В. Бюл. № 1, 2009 р.
  3. Бойко Б.Т. Дослідження плівкових сонячних елементів ITO/CdS/CdTe/Cu/Au./ Бойко Б.Т., Хрипунов Г.С., Меріуц А.В., Черних Е.П. // Фізика і хімія твердого тіла, Т.6, № 2 (2005) с.295-298.
  4. Биков М.А. Модель фотогенерации и переноса носителей в структуре α - Si : H / c – Si./Быков М.А., Быков А.М., Зуев С.А., Мазинов А.С., Слипченко Н.И., Унжаков Д.А. //Прикладная радиоэлектроника, 2008, Том 7, №1.
  5. Голикова О.А. Особенности структуры пленок аморфного гидрированного кремния, осажденных методом разложения силана на постоянном токе в магнитном поле. / Голикова О.А., Кузнецов А.Н., Кудоярова В.Х., Казанин М.М. // Физика и техника полупроводников, 1997, Том 31, № 7, с. 816-819.

##submission.downloads##

Опубліковано

2010-11-10

Як цитувати

Слипченко, Н. И., Письменецкий, В. А., Фролов, А. В., & Герасименко, Н. В. (2010). Регрессионный анализ параметров кремниевых монокристаллических и пленочных аморфных фотопреобразователей. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 6(5(48), 4–7. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2010.3304