Вплив атомів вуглецю на утворення домішкових комплексів в монокристалах кремнію

Автор(и)

  • Юрій Васильович Реков ПрАТ «Завод напівпровідників» Вул. Теплична, 16, м. Запоріжжя, Україна, 69600, Україна
  • Іван Федорович Червоний Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006, Україна
  • Євген Якович Швець Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006, Україна
  • Юрій Вікторович Головко Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006, Україна

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2012.5577

Ключові слова:

Кремній, монокристал, вуглець, домішкові комплекси

Анотація

Експериментально встановлено, що в процесі вирощування бездислокаційних монокристалів кремнію за методом Чохральського внаслідок зміни співвідношення концентрацій домішок відбувається активізація участі атомів вуглецю в утворенні домішкових комплексів

Біографії авторів

Юрій Васильович Реков, ПрАТ «Завод напівпровідників» Вул. Теплична, 16, м. Запоріжжя, Україна, 69600

Аспірант

Генеральний директор

Іван Федорович Червоний, Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006

Доктор технічних наук, професор, завідувач кафедрою

Кафедра металургії кольорових металів

Євген Якович Швець, Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006

Кандидат технічних наук, професор, перший проректор

Запорізька державна інженерна академія

Юрій Вікторович Головко, Запорізька державна інженерна академія Пр. Леніна 226, м. Запоріжжя, Україна, 69006

Кандидат технічних наук, доцент

Кафедра фізичної та біомедичної електроніки

Посилання

  1. Проспект фирмы МЕМС, 1994-1995. – 12 с.
  2. Wijaranacula W. Numerical modeling of the point defect aggregation during the Czochralski silicon crystal growth / W. Wijaranacula // Journal of electrochemical society. – 1992. - Vol. 139, № 2. - P. 604-616.
  3. Червоний І.Ф. Напівпровідниковий кремній: теорія і технологія виробництва / І.Ф. Червоний , В.З. Куцова, В.І. Пожуєв, Є.Я. Швець, О.А. Носко, С.Г. Єгоров, Р.М. Воляр. – Запоріжжя: Видавництво ЗДІА, 2009. – 488 с.
  4. Червоний, І.Ф. Управління концентрацією кисню під час вирощування монокристалів кремнію / І.Ф. Червоний, Є.Я. Швець, О.П. Головко, Р.М. Воляр // Металургія: Збірник наукових праць ЗДІА. - Запоріжжя: ЗДІА, 2005. – Вип. 11. – С. 63-69.
  5. Швец Е.Я., Головко Ю.В. Исследование распределения углерода между расплавом, твёрдой и газовой фазами в процессе выращивания монокристаллов кремния / Металургія. Збірник наукових праць ЗДІА. - Запоріжжя: ЗДІА, 2008. – Вип. 17. – С. 104-108.
  6. ASTM F1391. Standard test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption // Annual Book of ASTM Standards.Vol.10.05 (1997).
  7. Швець Є.Я., Головко Ю.В. Вплив комплексоутворення на коефіцієнти розподілу домішок у процесі вирощування монокристалів кремнію / Металургія. Збірник наукових праць ЗДІА. - Запоріжжя: ЗДІА, 2011. – Вип. 25. – С. 124 – 131.
  8. ASTM F1727. Standard practice for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers // Annual Book of ASTM Standards.Vol.10.05 (1997).
  9. Рейви К. Дефекты и примеси в полупроводниковом кремнии; пер. с англ. – М.: Мир, 1984. – 475 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2012-12-13

Як цитувати

Реков, Ю. В., Червоний, І. Ф., Швець, Є. Я., & Головко, Ю. В. (2012). Вплив атомів вуглецю на утворення домішкових комплексів в монокристалах кремнію. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 4(5(58), 24–27. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2012.5577