СТАТИСТИКА ЕЛЕКТРОНІВ І ДІРОК В СЕЛЕНИСТОМУ СВИНЦІ З ДОМІШКОВИМИ АТОМАМИ

Автор(и)

  • Ярослав Степанович Буджак Кафедра напівпровідникової електроніки Національний університет «Львівська політехніка», Україна
  • Ольга Василівна Зуб Кафедра напівпровідникової електроніки Національний університет «Львівська політехніка», Україна

DOI:

https://doi.org/10.15587/1729-4061.2010.2979

Ключові слова:

рівняння нейтральності, концентрація носіїв струму

Анотація

В роботі показано вплив ефекту екранування домішковими атомами носіїв струму на форму рівняння нейтральності домішкових атомів PbSe. В досліджуваних кристалах були виявлені домішкові центри з глибокими енергетичними рівнями та обґрунтована природа таких локальних центрів.

Біографії авторів

Ярослав Степанович Буджак, Кафедра напівпровідникової електроніки Національний університет «Львівська політехніка»

Доктор фізико-математичних наук, професор

Ольга Василівна Зуб, Кафедра напівпровідникової електроніки Національний університет «Львівська політехніка»

Аспірантка

Посилання

  1. Я.С. Буджак, М.П. Заячковский. К вопросу о механизме рассеяния носителей тока в PbSe.// УФЖ т.13,№11, 1968.с.1798-1804.
  2. Я.С.Буджак. Екранування домішкових атомів носіями струму та його вплив на властивості кристалів // Фізика і хімія твердого тіла. Т.5.№1.2004.С.77-81.
  3. Я.С.Буджак. Екранування в легованих кристалах // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”.-«Електроніка». - 2004.- №513. С.112-117.
  4. Я.С.Буджак, І.Є. Лопатинський. MathCAD в теорії термодинамічних та кінетичних властивостей кристалів. Львів. Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”.2002. с.187.

##submission.downloads##

Опубліковано

2010-07-30

Як цитувати

Буджак, Я. С., & Зуб, О. В. (2010). СТАТИСТИКА ЕЛЕКТРОНІВ І ДІРОК В СЕЛЕНИСТОМУ СВИНЦІ З ДОМІШКОВИМИ АТОМАМИ. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 4(5(46), 35–37. https://doi.org/10.15587/1729-4061.2010.2979